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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 容限測試

高速數(shù)字接口測試，讓容限測試更高效

  • 數(shù)字電路和接口在越來越高的時(shí)鐘頻率下的表現(xiàn)非常類似于模擬電路。所以，為了確保新設(shè)計(jì)方案和重新設(shè)計(jì)的方案中接口的質(zhì)量，必須引入新的測量方法和測量設(shè)備。當(dāng)今車輛中的信息娛樂系統(tǒng)需要的功能，只有借助新型高速顯卡和超快內(nèi)存才能實(shí)現(xiàn)。我們所有的數(shù)字社交互動(dòng)信息都經(jīng)由大型服務(wù)器記錄和處理，它們需要快速地從大功率存儲器中調(diào)取數(shù)據(jù)，并傳輸至各下級系統(tǒng)進(jìn)行處理。大量的圖像不斷被拍攝，并以高分辨率格式保存，它們在各種情況下被發(fā)往 AI 服務(wù)器；先進(jìn)的算法可快速地處理數(shù)據(jù)，并輸出優(yōu)質(zhì)的結(jié)果。一個(gè)典型的 AI 服務(wù)器與其他先進(jìn)的
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高速PCI信號采集卡設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)綜合實(shí)例之：產(chǎn)品穩(wěn)定性和可靠性測試

  • 完成一個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)后和初步調(diào)試后，就可以對產(chǎn)品進(jìn)行完整的測試流程。一般來說，對產(chǎn)品需要進(jìn)行下面一些測試，通過測試后才能對產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性得出一個(gè)結(jié)論。
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容限測試介紹

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