首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 嵌入式測試

Tektronix攜手NI將在推出聯合產品創(chuàng)新計劃

  •   泰克公司和美國國家儀器有限公司日前宣布,將繼續(xù)拓展雙方超過20年的合作伙伴關系,進一步推出創(chuàng)新協作計劃,共同開發(fā)多項創(chuàng)新產品,以幫助從事設計驗證、制造測試、科學研究和嵌入式測試的工程師和科學家有效提高效率,同時降低成本。兩家公司將于8月4日到6日在德克薩斯州奧斯汀市舉辦的NIWeek 2009年會上公布具體合作細節(jié)。   根據2009年度EDN “工程師行為(Mind of the Engineer)”調查結果顯示,近兩年來,由于經濟衰退,電子設計工程師面臨的挑戰(zhàn)正進一步加劇
  • 關鍵字: NI  LabVIEW  嵌入式測試  
共1條 1/1 1

嵌入式測試介紹

嵌入式軟件測試/嵌入式測試或叫交叉測試(cross-test)的日的與非嵌入式軟件是相同的。但是,在嵌入式系統設計中,軟件正越來越多地取代硬件,以降低系統的成本,獲得更大的靈活性,這就需要使用更好的測試方法和工具進行嵌入式和實時軟件的測試。 通常嵌入式系統對可靠性的要求比較高。嵌入式系統安全性的失效可能會導致災難性的后果,即使是非安全性系統,由于大批量生產也會導致嚴重的經濟損失。這就要求對嵌入式系 [ 查看詳細 ]

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網安備11010802012473