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帶電粒子探測器基本類 文章 進入帶電粒子探測器基本類技術社區(qū)

帶電粒子的測量與探測器的基本類型

  • ORTEC帶電粒子硅探測器主要有金硅面壘和離子注入兩種工藝，耗盡層厚度從10微米到幾個毫米厚不等。而根據(jù)其幾何形狀與是否全耗盡又分為諸多
  • 關鍵字： 帶電粒子探測器基本類  
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帶電粒子探測器基本類介紹

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