延時(shí)校準(zhǔn) 文章 進(jìn)入延時(shí)校準(zhǔn)技術(shù)社區(qū)
延時(shí)校準(zhǔn)、脈沖測(cè)試一定要做的事兒!
- 進(jìn)行雙脈沖測(cè)試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性,可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期。基于雙脈沖測(cè)試獲得的器件開關(guān)波形可以做很多事情,包括:通過對(duì)開關(guān)過程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開關(guān)特征參數(shù)制作器件規(guī)格書、計(jì)算開關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐、不同廠商器件開關(guān)特性的對(duì)比等。測(cè)量延時(shí)的影響被測(cè)信號(hào)在測(cè)量過程中會(huì)經(jīng)歷兩次延時(shí),不同信號(hào)所經(jīng)歷延時(shí)的差別會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí),索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級(jí)別,對(duì)于
- 關(guān)鍵字: Tektronix 延時(shí)校準(zhǔn) 脈沖測(cè)試
共1條 1/1 1 |
延時(shí)校準(zhǔn)介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條延時(shí)校準(zhǔn)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)延時(shí)校準(zhǔn)的理解,并與今后在此搜索延時(shí)校準(zhǔn)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)延時(shí)校準(zhǔn)的理解,并與今后在此搜索延時(shí)校準(zhǔn)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473