首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 開環(huán)測試

輸入失調(diào)電壓的開環(huán)測試

  • 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數(shù),GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時,兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測試設(shè)備大都采用“被測器件(DU
  • 關(guān)鍵字: 輸入  失調(diào)電壓  開環(huán)測試    
共1條 1/1 1

開環(huán)測試介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條開環(huán)測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對開環(huán)測試的理解,并與今后在此搜索開環(huán)測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473