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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 成品率診斷

CADENCE擴(kuò)展測(cè)試以及成品率診斷技術(shù)先導(dǎo)地位

  • 　　Cadence設(shè)計(jì)系統(tǒng)有限公司宣布，憑借其最新的數(shù)據(jù)壓縮以及成品率診斷性能，該公司正不斷擴(kuò)展在測(cè)試和成品率診斷領(lǐng)域的 技術(shù)先導(dǎo)地位。新版Cadence® Encounter® Test通過(guò)為非專(zhuān)有的片上異或（XOR）測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮結(jié)構(gòu)提供更廣泛的支持,解決在制造高品質(zhì)硅芯片過(guò)程中的費(fèi)用上漲問(wèn)題。此新型數(shù)據(jù)壓縮性能增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試矢量生成(ATPG)和診斷產(chǎn)品之間的多廠商互操作性，并支持使用一站式診斷流程。 　　   　　這種新型測(cè)試功能在
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成品率診斷介紹

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