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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 數(shù)字校準(zhǔn)

一種應(yīng)用于折疊/插值型ADC的高速寬帶采樣保持電路

  • 本文提出了一種基于0.18 μm BiCMOS工藝設(shè)計(jì)的開環(huán)采樣保持電路，采用了增益和失調(diào)誤差數(shù)字校準(zhǔn)算法提升動態(tài)性能，應(yīng)用于高速折疊/插值型ADC中。電路仿真和測試結(jié)果表明，在2GSPS采樣率下，折疊/插值型ADC的DNL≤±0.3LSB、INL≤±0.3LSB，有效位達(dá)到7.32位。
  • 關(guān)鍵字： 開環(huán)采樣保持電路  數(shù)字校準(zhǔn)  折疊插值  202205  

流水線ADC設(shè)計(jì)中的數(shù)字校淮算法與實(shí)現(xiàn)

  • 摘要：數(shù)字校準(zhǔn)是高速高精度流水線ADC設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵技術(shù)之一。文章提出了一種可通過校準(zhǔn)控制生成測試信號，自動計(jì)算權(quán)重來對流水線ADC中電容失配進(jìn)行誤差補(bǔ)償?shù)募夹g(shù)。該技術(shù)能有效地減小增益有限、電荷注入等非理想因
  • 關(guān)鍵字： 流水線ADC  數(shù)字校準(zhǔn)  非線性誤差  
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數(shù)字校準(zhǔn)介紹

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