- 一、燈絲電壓放大器的影響 電子管柵極與燈絲之間存在電容Cf，50赫的交流燈絲電壓將通過Cf使燈絲與柵極之間出現(xiàn)漏電流IA，IA流過輸入端從而帶來了干擾，這個在輸入級產(chǎn)生的干擾電壓雖然很少，但經(jīng)過幾級放大后，對放
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原理 方法 交流 抑制 放大器 電子管
- 電源變壓器可通過磁場、電磁感應和電路對放大器形成干擾，是音響機器中最大的干擾源。所以，要處理好它的工作狀態(tài)和應用環(huán)境，才能有效地避免由電源變壓器產(chǎn)生的干擾，使放大器得到優(yōu)良的音效。下面我將對此與大家做
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方法 干擾 放大器 變壓器 減少
- 人眼對于光的顏色及亮度的分辨率非常高，特別是對于顏色的差別和變化非常敏感。對于不同顏色波長的光人眼...
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LED 分選 方法 發(fā)展趨勢
- 喀嗒聲指惱人的音頻瞬態(tài)噪聲，在耳機放大器打開或關閉時由耳機產(chǎn)生。通過去掉傳統(tǒng)耳機放大器輸出端的隔直電容，美信公司的DirectDrive專利技術可去除喀嗒聲，同時提供更好的低頻響應。本文先闡述DirectDrive原理，如
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音頻 輸出端 方法
- 1引言 EFT是電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗的簡稱。EFT試驗的目的是驗證由閃電、接地故障、電源開關動作、或電路中繼電器等電感性負載動作而引起的瞬時擾動對整個控制回路中產(chǎn)生干擾時，控制箱（和PLC等器件）的抗干
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特點 抑制 方法 干擾 脈沖 高壓 變頻器 快速 風光
- 從根本上來說，電磁兼容在測試暗室內(nèi)針對現(xiàn)有的模型是進行測試驗證的。這些測試不但價格昂貴而且還耗費大量時間。在設計過程中應用早期的軟件仿真用來減少測試的花費已經(jīng)有很多方法。然而，EMC是一門復雜的學科，目前
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PCB 設計效率 方法 軟件仿真
- 提高FPGA設計效能的方法,隨著FPGA密度的增加，系統(tǒng)設計人員能夠開發(fā)規(guī)模更大、更復雜的設計，從而將密度優(yōu)勢發(fā)揮到最大。這些大規(guī)模設計基于這樣的設計需求——需要在無線通道卡或者線路卡等現(xiàn)有應用中加入新功能，或者通過把兩種
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方法 效能 設計 FPGA 提高
- 光電耦合器——又稱光耦合器或光耦，它屬于較新型的電子產(chǎn)品，現(xiàn)在它廣泛應用于計算機、音視頻hellip;hellip;各種控制電路中。由于光耦內(nèi)部的發(fā)光二極管和光敏三極管只是把電路前后級的電壓或電流變化，
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檢測 方法 結構 內(nèi)部 耦合 光電
- 數(shù)字信號在傳輸?shù)倪^程中，由于干擾或通道特性變壞等原因，都有可能使得傳輸?shù)臄?shù)字信號出錯（誤碼），因此糾錯是提高數(shù)字傳輸質量的一個必不可少的過程。 那么，糾錯是如何進行的？圖JU-1給出了糾錯的全過程。模擬
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數(shù)字信號 糾錯 方法
- 基于SPI復用配置的FPGA編程方法,1．2 SPI Flash存儲器的復用
復用SPI Flash是指既用它來保存硬件配置文件、Bootloader引導程序還用來保存用戶應用程序。在加載階段，F(xiàn)PGA自動從SPI Flash中讀取硬件配置bit文件及Bootloader程序進行配置到片內(nèi)B
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編程 方法 FPGA 配置 SPI 復用 基于
- 一． 電磁學計算公式推導：
1．磁通量與磁通密度相關公式：
Ф = B * S ⑴
Ф ----- 磁通(韋伯)
B ----- 磁通密度(韋伯每平方米或高斯) 1韋伯每平方米=104高斯
S ----- 磁路的截
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方法 參數(shù) 變壓器 高頻 計算
- 序言 由于直流無刷電動機既具有交流電動機的結構簡單、運行可靠、維護方便等一系列優(yōu)點，又具備直流電動機的運行效率高、無勵磁損耗以及調速性能好等諸多優(yōu)點，故在當今國民經(jīng)濟各領域應用日益普及。 一個多世
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方法 控制 原理 工作 直流電動機
- 變頻器帶來大經(jīng)濟效益同時也帶來許多負面影響，變頻電路產(chǎn)生電磁輻射可以造成其他通信設備及電子設備干擾。
1. 電磁輻射傳播方式變頻電路中，頻率很高諧波電流分量具有向空中輻射能力，對其他設備形成干擾。尤其通信
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變頻電路 電磁輻射 干擾 方法
- 1、引言了解共模和差模信號之間的差別,對正確理解脈沖磁路和工作模塊之間的關系是至關重要的。變壓器、共模扼流圈和自耦變壓器的端接法,對在局域網(wǎng)（LAN）和通信接口電路中減小共模干擾起關鍵作用。共模噪音在用無屏
- 關鍵字：
方法 抑制 噪音 以及 信號
- 高度復雜的SoC設計正面臨著高可靠性、高質量、低成本以及更短的產(chǎn)品上市周期等日益嚴峻的挑戰(zhàn)?？蓽y性設計通過提高電路的可測試性，從而保證芯片的高質量生產(chǎn)和制造。借助于EDA技術，可以實現(xiàn)可測試性設計的自動化，
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系統(tǒng)級 方法 芯片測試 效率
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