首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 晶圓設(shè)計

人工智能行業(yè)深度報告:AI下半場,應(yīng)用落地,賦能百業(yè)

  • 2022 年 11 月底,OpenAI 發(fā)布了人機對話模型 ChatGPT,在兩個月不到的時間內(nèi)其線上活躍用戶規(guī)模超 過 1 億人,生成式大模型受到越來越廣泛的關(guān)注,人工智能行業(yè)進入到以大模型為代表的快速發(fā)展階段,巨量 參數(shù)和智能涌現(xiàn)是這一輪人工智能變革的典型特征。微軟、谷歌、Meta、亞馬遜等全球科技巨頭將大模型視為 重要的發(fā)展機遇,在生成式大模型領(lǐng)域加速布局,積極投入且成果頻頻。我國的眾多互聯(lián)網(wǎng)廠商和人工智能企 業(yè)也積極投身到大模型領(lǐng)域中,百度、訊飛、阿里、華為、騰訊、商湯等企業(yè)也在快速更迭自己的大模
  • 關(guān)鍵字: EDA  AI  晶圓設(shè)計  

KID65783AP顯示IC的失效分析與研究

  •   王少輝,項永金(格力電器(合肥)有限公司,安徽?合肥?230088)  摘?要:柜機空調(diào)顯示板在廠內(nèi)生產(chǎn)過程與售后出現(xiàn)大量失效,故障現(xiàn)象表現(xiàn)為顯示多劃、混亂、LED燈異常點亮等。經(jīng)過分析為KID65783AP顯示IC失效導(dǎo)致,失效模式為1腳對V CC 屬性異常或其他引腳對V CC 屬性異常。失效芯片經(jīng)分析為部分管腳ESD損傷,以及部分管腳漏電流偏大。本文結(jié)合顯示驅(qū)動IC的失效機理,失效電路,對顯示驅(qū)動IC產(chǎn)品設(shè)計進行優(yōu)化更改,提高顯示驅(qū)動IC的ESD(MM)水平。產(chǎn)品同時導(dǎo)入漏電流的測試,從顯示IC產(chǎn)
  • 關(guān)鍵字: 202005  顯示驅(qū)動IC  ESD損傷  漏電流  晶圓設(shè)計  可靠性  
共2條 1/1 1

晶圓設(shè)計介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條晶圓設(shè)計!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對晶圓設(shè)計的理解,并與今后在此搜索晶圓設(shè)計的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473