晶片級(jí)測(cè)試 文章 進(jìn)入晶片級(jí)測(cè)試技術(shù)社區(qū)

基于Multitest Mercury探針的晶片級(jí)測(cè)試座受好評(píng) 測(cè)試良品率提高6%

• 　　Multitest 宣布全球最大的無(wú)晶圓半導(dǎo)體制造商之一對(duì)基于Mercury的晶片級(jí)測(cè)試座進(jìn)行了評(píng)估，結(jié)果發(fā)現(xiàn)該產(chǎn)品優(yōu)于以往傳統(tǒng)的POGO型彈簧針解決方案。Mercury測(cè)試座有八個(gè)試驗(yàn)位，每個(gè)試驗(yàn)位將近200個(gè)彈簧探針?？蛻魹闈M足不斷增加的產(chǎn)量，已經(jīng)購(gòu)買了三十多個(gè)測(cè)試座。 　　晶片級(jí)測(cè)試座已被中國(guó)臺(tái)灣和新加坡的多個(gè)測(cè)試代工廠采用?？蛻舴从矼ercury測(cè)試座使測(cè)試良品率比以往的方案提高了4-6%，顯著節(jié)約了測(cè)試成本。此外，分包商對(duì)Mercury測(cè)試座的經(jīng)久耐用、維護(hù)要求低以及低廉的替換探針價(jià)格感到
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