首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問(wèn)答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試測(cè)量

NIDays 2008全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)中國(guó)站圓滿(mǎn)落幕

  • 　　2008年11月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）2008年度 “NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月18日在上海國(guó)際會(huì)議中心圓滿(mǎn)落幕。600余位工程師、11家國(guó)內(nèi)外知名測(cè)試測(cè)量企業(yè)以及20多家行業(yè)媒體到會(huì)。圍繞“工程師的奧林匹克——綠色應(yīng)用，科技共享”的主題，本次NIDays技術(shù)盛會(huì)通過(guò)5大專(zhuān)題、18場(chǎng)技術(shù)講座，逾40種案例演繹與新品展示等，向參會(huì)
  • 關(guān)鍵字： NIDays  測(cè)試測(cè)量  LabVIEW  

低失真覆蓋三個(gè)十倍頻程同步正弦發(fā)生器

基于PIR傳感器的移動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)研究

LabVIEW并行化技術(shù)來(lái)提高測(cè)試的吞吐量

安捷倫科技在 LTE 全球峰會(huì)展示適用于LTE整個(gè)開(kāi)發(fā)周期的測(cè)試解決方案

  • 　　安捷倫科技公司在 全球峰會(huì)（LTE World Summit）上展示了LTE 測(cè)試解決方案，并對(duì)這個(gè)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的、強(qiáng)大和可擴(kuò)展的進(jìn)行演示，展示了在 LTE 用戶(hù)設(shè)備開(kāi)發(fā)周期（從早期協(xié)議開(kāi)發(fā)到一致性測(cè)試）各個(gè)環(huán)節(jié)的測(cè)試功能。  　　安捷倫科技副總裁兼安捷倫歐洲、中東地區(qū)和非洲市場(chǎng)銷(xiāo)售總經(jīng)理 Benoit Neel表示，“安捷倫是測(cè)量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，可為整個(gè) LTE 開(kāi)發(fā)周期提供解決方案。我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了一些率先面市的 LTE 測(cè)試產(chǎn)品，確保成功部署 LTE，使之滿(mǎn)足快速上市的目標(biāo)。&r
  • 關(guān)鍵字： 安捷倫，測(cè)試測(cè)量  

NIDays2008多核技術(shù)下LabVIEW編程

基于示波器作為測(cè)試開(kāi)關(guān)電源測(cè)量的平臺(tái)研究

CDMA無(wú)線(xiàn)鏈路中QPSK調(diào)制的測(cè)量與凈化

電源行業(yè)中對(duì)于A(yíng)C/DC的電源測(cè)試解決方案

PXI：測(cè)量業(yè)界的自動(dòng)化系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范平臺(tái)

WiMAX 測(cè)試儀支持更高數(shù)據(jù)吞吐量空閑模式

C8051F005在高速誤碼測(cè)試系統(tǒng)中的運(yùn)用

DSP/FPGA高精度測(cè)量系統(tǒng)多電源可靠性設(shè)計(jì)

“最優(yōu)效能費(fèi)用比”的數(shù)字存儲(chǔ)示波器

  • 2008年 10 月－ 杭州 － 三匯科技公司（TEKWAY Technologies Corporation）推出便攜式雙蹤數(shù)字存儲(chǔ)示波器DST1000系列產(chǎn)品線(xiàn)，該產(chǎn)品線(xiàn)以1GS/s的實(shí)時(shí)采樣率實(shí)現(xiàn)100MHz——200MHz的帶寬；具有5.7″的單色/彩色波形顯示區(qū)域；具有小巧而經(jīng)典的外型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)；具有高穩(wěn)定和高精度的測(cè)試性能?？焖俚牟ㄐ嗡⑿侣始哟罅藢?duì)偶發(fā)信號(hào)捕捉的成功率；精準(zhǔn)的峰值檢測(cè)功能更便于對(duì)附加在信號(hào)上的噪音進(jìn)行分析；幾乎可以當(dāng)作頻率計(jì)使用的快速傅里葉變化FFT（fast Fourier t
  • 關(guān)鍵字： 測(cè)試測(cè)量  DST1000  三匯科技  

統(tǒng)一頻率與電容測(cè)量的石英晶體靜電容方法

共1022條 23/69 |‹ « 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 » ›|

測(cè)試測(cè)量介紹

電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐 　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀…… 　　通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬(wàn)用表、光源、光電話(huà)、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線(xiàn)電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試 　　儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]

熱門(mén)主題

關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473