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測(cè)試運(yùn)維
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測(cè)試運(yùn)維TestOps 如何加速電子設(shè)計(jì)和測(cè)試
- 每個(gè)產(chǎn)品開發(fā)團(tuán)隊(duì)都在竭力推動(dòng)其產(chǎn)品從概念盡快和高效地轉(zhuǎn)化為實(shí)際產(chǎn)品。這一目標(biāo)給開發(fā)團(tuán)隊(duì)帶來(lái)了沉重壓力,迫使他們改進(jìn)仿真工具、削減設(shè)計(jì)周期以及縮短測(cè)試時(shí)間。敏捷設(shè)計(jì)技術(shù)除了得到軟件開發(fā)人員的廣泛歡迎,也可以幫助硬件開發(fā)人員實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)。下面的螺旋模型(圖 1)反映了這樣一個(gè)事實(shí),即大多數(shù)新產(chǎn)品的開發(fā)都借鑒了現(xiàn)有產(chǎn)品的設(shè)計(jì),并使用了多個(gè)來(lái)源的軟件模塊。圖 1 僅顯示了一個(gè)原型制造階段,但實(shí)際上更常見的情況是多個(gè)原型制造階段依序迭代,消耗的時(shí)間也更多。圖 1:現(xiàn)代產(chǎn)品開發(fā)流程的簡(jiǎn)化示意圖。一些敏捷技術(shù)(例如 D
- 關(guān)鍵字: 是德 測(cè)試運(yùn)維 電子設(shè)計(jì) Keysight
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測(cè)試運(yùn)維介紹
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