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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

基于嵌入式的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 為提高環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)的控制精度與穩(wěn)定性,實(shí)現(xiàn)國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)的自主化設(shè)計(jì),提出了一種基于嵌入式技術(shù)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)??刂葡到y(tǒng)包括控制器、測(cè)控模塊,其中控制器以ARM Cortex-A9四核微處理器為核心,負(fù)責(zé)人機(jī)界面的運(yùn)行、邏輯運(yùn)算、I/O與PID控制;測(cè)控模塊以LPC1758為核心,采用24位高精度ADC,負(fù)責(zé)設(shè)備整機(jī)參數(shù)的采集;I/O模塊包含多路繼電器輸出與晶體管輸出,集成了電子膨脹閥控制輸出。該控制系統(tǒng)的控制精度與穩(wěn)定性滿足環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的控制要求,更為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的發(fā)展與升級(jí)提供
  • 關(guān)鍵字: 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備  控制器  測(cè)控模塊  ARM Cortex-A9  201508  

電源檢測(cè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備選擇方法

共2條 1/1 1

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備介紹

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