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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 電磁兼容測(cè)試

AAV3915眾多檢波器如何選擇？看完這個(gè)，讓您此后不再頭痛。

  • AV3915電磁兼容測(cè)試接收機(jī)，不僅能夠滿足電磁兼容測(cè)試分析、認(rèn)證的需要，而且它還是一臺(tái)高性能的頻譜分析儀，它能夠提供信號(hào)分析測(cè)試的各種功能，滿足
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手機(jī)電磁兼容測(cè)試常見問(wèn)題那些事兒

  • 本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試中經(jīng)常出現(xiàn)的問(wèn)題，包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。1、靜電放電
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集成電路的電磁兼容測(cè)試

  • 集成電路的電磁相容性正日益受到重視。電子設(shè)備和系統(tǒng)供貨商努力改進(jìn)其產(chǎn)品以滿足電磁兼容規(guī)格，降低電磁發(fā)射...
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固態(tài)繼電器的電磁兼容測(cè)試

  • 中心議題： 繼電器固態(tài)繼電器的EMC標(biāo)準(zhǔn) 影響固態(tài)繼電器EMC 的主要因素 固態(tài)繼電器的EMC測(cè)試試驗(yàn)方法和判定標(biāo)準(zhǔn)
    電磁兼容（EMC）在電子產(chǎn)品中是一項(xiàng)重要的技術(shù)指標(biāo)。 本文介紹影響固態(tài)繼電器（SSR）EMC 的主
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推動(dòng)EMC新技術(shù)發(fā)展,促進(jìn)EMC新標(biāo)準(zhǔn)成熟

  • 　　2011年6月28日至30日，在北京國(guó)際會(huì)議中心舉辦的第十六屆國(guó)際電磁兼容技術(shù)交流展覽會(huì)上，羅德與施瓦茨公司將全面展示在其電磁兼容測(cè)試領(lǐng)域的高端形象與影響力。
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R&S將在電磁兼容展覽會(huì)上亮相

  • 　??? 2011年6月28日至30日，在北京國(guó)際會(huì)議中心舉辦的第十六屆國(guó)際電磁兼容技術(shù)交流展覽會(huì)上，羅德與施瓦茨公司將全面展示在其電磁兼容測(cè)試領(lǐng)域的高端形象與影響力。　
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R&S引領(lǐng)電磁兼容測(cè)試技術(shù)

  • 　　2010年11月2至4日，在上海光大會(huì)展中心舉辦的第九屆中國(guó)上海國(guó)際電磁兼容技術(shù)與安規(guī)認(rèn)證展覽會(huì)上，R&S公司將展示其全面領(lǐng)先的電磁兼容測(cè)試解決方案。 　　作為世界頂級(jí)的EMC測(cè)試儀器、系統(tǒng)及方案提供商，R&S公司將在此次展會(huì)上展出： 　　系列EMI測(cè)試接收機(jī)：R&S®ESU、ESCI和ESL，覆蓋了20 Hz-40 GHz 的頻率范圍, 全部支持最新的CISPR-AV, CISPR-RMS檢波方式，從全兼容的軍標(biāo)民標(biāo)測(cè)試到簡(jiǎn)單的診斷測(cè)試，符合不同層次的客戶需求;
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TDK 新建最先端大型高性能電波暗室

  • 　　TDK 公司近日宣布，將在其位于千葉縣市川市的技術(shù)中心建造一個(gè)大型高性能電波暗室。新電波暗室計(jì)劃于 2009 年10 月前后建成，屆時(shí)可進(jìn)行世界高水平的電磁兼容測(cè)試、認(rèn)證及整改實(shí)驗(yàn)。該設(shè)施由一個(gè)10 米法暗室、一個(gè)3 米法暗室、一個(gè)天線評(píng)價(jià)用暗室及一個(gè)屏蔽室組成。在與現(xiàn)有設(shè)施（一個(gè)10 米法暗室和一個(gè)3 米法暗室）同時(shí)使用的情況下，TDK 能夠完成其經(jīng)營(yíng)的所有產(chǎn)品的電磁兼容測(cè)試，并能為客戶新開發(fā)的產(chǎn)品量身定制世界最高水準(zhǔn)的測(cè)試。 　　近年來(lái)，隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子設(shè)備性能顯著提高，功能明顯增多。此
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電磁兼容測(cè)試介紹

　　電磁兼容測(cè)試 　　電磁兼容性測(cè)試EMC（Electro Magnetic Compatibility），是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。 EMC設(shè)計(jì)與EMC測(cè)試是相輔相成的。EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過(guò)EMC測(cè)試來(lái)衡量的。只有在產(chǎn)品的EMC設(shè)計(jì)和研制的全過(guò)程中，進(jìn)行EMC的相容性預(yù)測(cè)和評(píng)估，才能及早發(fā)現(xiàn)可能存在的電磁干擾，并采取必要的 [ 查看詳細(xì) ]

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