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DC／DC輻照損傷與VDMOS器件1／f噪聲相關性研究

  • 通過對DC／DC轉換器低頻噪聲測試技術以及在y輻照前后電性能與1/f噪聲特性變化的對比分析，發(fā)現使用低頻噪聲表征DC／DC轉換器的可靠性是對傳統(tǒng)電參數表征方法的一種有效補充。對DC／DC轉換器輻照損傷與其內部VDMOS器件1/f噪聲相關性進行了研究，討論了引起DC／DC轉換器輻照失效的原因。
  • 關鍵字： DC  相關性  研究  噪聲  VDMOS  輻照  損傷  器件  轉換器  
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