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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 文章 進(jìn)入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)社區(qū)
VNA使用方法:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)和測(cè)試方法
- 關(guān)鍵字: VNA 精確測(cè)量 單端口DUT 是不是每次測(cè)量一個(gè)新的項(xiàng)目前都必須做校準(zhǔn)?這個(gè)是不一定需要的,盡量將每次校準(zhǔn)的state存入VNA,名字最好為校準(zhǔn)狀態(tài),例如頻率范圍,輸入激勵(lì)功率等。如果有新的測(cè)試項(xiàng)目,但是它的
- 關(guān)鍵字: VNA 方法 測(cè)試方法 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及維護(hù)
- 1 概述 在微波探測(cè)系統(tǒng)中,通常天線都是系統(tǒng)自動(dòng)控制環(huán)路的閉環(huán)點(diǎn)。天線作為一個(gè)收/發(fā)控制系統(tǒng)的重要組成部分,其性能的優(yōu)劣,將直接影響到全系統(tǒng)的檢測(cè)能力和探測(cè)精度。本文只探討網(wǎng)絡(luò)分析儀在天線S參數(shù)測(cè)試方
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基于PNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的脈沖信號(hào)S參數(shù)測(cè)量解決方
- 傳統(tǒng)上,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀被用來(lái)測(cè)量組件的連續(xù)波形(CW)S參數(shù)性能。在這些操作環(huán)境下,分析儀常常作為窄帶測(cè)量?jī)x器工作。它向組件傳輸已知的CW頻率并測(cè)量CW頻率響應(yīng)。如果我們想查看單個(gè)CW頻率的響應(yīng),我們可以在頻率看
- 關(guān)鍵字: PNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 脈沖信號(hào) S參數(shù)
矢網(wǎng)Wiltron360B應(yīng)用在RF仿真中的
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 Wiltron360B DUT 射頻仿真
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的應(yīng)用
- 關(guān)鍵字:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 測(cè)量 相位 增益壓縮 時(shí)域引 言在科研及生產(chǎn)中,高性能的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是功能最強(qiáng)的網(wǎng)絡(luò)分析儀,它對(duì)于各種微波器件和組件的特性分析具有至關(guān)重要的作用。它具有頻域和時(shí)域兩類測(cè)試功能,可以
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矢網(wǎng)Wiltron360B在RF仿真中的應(yīng)用
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的時(shí)域功能在天線測(cè)量中的應(yīng)用
- 摘要:本文介紹利用矢網(wǎng)的時(shí)域功能在天線系統(tǒng)的駐波系數(shù)測(cè)量中,確定各反射點(diǎn)的位置和反射大小,以及在天線增益...
- 關(guān)鍵字: 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 時(shí)域功能 天線測(cè)量
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在實(shí)際測(cè)試工作中的應(yīng)用
- 1.前言2.Anritsu矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量功能介紹矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可通過(guò)采用適當(dāng)?shù)霓D(zhuǎn)換器來(lái)測(cè)量所有參數(shù)...
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利用更先進(jìn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)對(duì)射頻測(cè)量挑戰(zhàn)
- 關(guān)鍵字:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 射頻測(cè)量準(zhǔn)確地對(duì)高頻器件的線性和非線性特征進(jìn)行表征的需求以及目前電子產(chǎn)品設(shè)備中子系統(tǒng)集成程度不斷提高的發(fā)展趨勢(shì)正在改變著對(duì)RF和微波器件進(jìn)行的測(cè)試方式。 本文將詳細(xì)介紹怎樣通過(guò)在矢
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網(wǎng)絡(luò)分析儀與采樣示波器TDR的優(yōu)勢(shì)比較
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071C的TDR與傳統(tǒng)采樣示波器T
- 最近幾年隨著多Gbps傳輸?shù)钠占?,?shù)字通信標(biāo)準(zhǔn)的比特率也在迅速提升。例如, USB 3.0的比特率達(dá)到 5 Gbps。比特率的提高使得在傳統(tǒng)數(shù)字系統(tǒng)中不曾見(jiàn)過(guò)的問(wèn)題顯現(xiàn)了出來(lái)。諸如反射和損耗的問(wèn)題會(huì)造成數(shù)字信號(hào)失真,導(dǎo)致
- 關(guān)鍵字: TDR E5071C 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 采樣示波器
基于PNA網(wǎng)分脈沖信號(hào)的S參數(shù)測(cè)量
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網(wǎng)絡(luò)分析的基本原理
- 一種獨(dú)特的儀器 網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種功能強(qiáng)大的儀器,正確使用時(shí),可以達(dá)到極高的精度。它的應(yīng)用也十分廣泛,在很多行業(yè)都不可或缺,尤其在測(cè)量無(wú)線射頻(RF)元件和設(shè)備的線性特性方面非常有用?,F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀還可以應(yīng)用于更具體的場(chǎng)合,例如,信號(hào)完整性和材料的測(cè)量。隨著業(yè)界第一款PXI網(wǎng)絡(luò)分析儀—NI PXIe - 5630的推出,你完全可以擺脫傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)分析儀的高成本和大占地面積的束縛,輕松地將網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證和產(chǎn)線測(cè)試。 網(wǎng)絡(luò)分析儀的發(fā)展 你可以使用圖1所示的NI PXIe-
- 關(guān)鍵字: 網(wǎng)絡(luò)分析 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
創(chuàng)遠(yuǎn)推出高性價(jià)比矢網(wǎng)
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- 關(guān)鍵字: 創(chuàng)遠(yuǎn)儀器 高性價(jià)比 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
NI發(fā)布業(yè)界首臺(tái)基于PXI平臺(tái)的RF矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)
- NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz雙端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),這是自動(dòng)化測(cè)試行業(yè)首臺(tái)基于PXI總線的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。借助全新的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,可對(duì)前向參數(shù)和反向參數(shù)(T/R)進(jìn)行全面的矢量分析。此外,該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還提供精密自動(dòng)校準(zhǔn)功能,并且基于靈活的軟件定義架構(gòu),非常適用于自動(dòng)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試。該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀基于PXI模塊化架構(gòu),只需占據(jù)兩個(gè)PXI槽位,使測(cè)試工程師可以在有限空間中將矢量網(wǎng)絡(luò)分析整合進(jìn)測(cè)試系統(tǒng),而無(wú)需增加額外成本或使用體積較大的傳統(tǒng)臺(tái)式儀器。 &ld
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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀介紹
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是電子測(cè)量領(lǐng)域內(nèi)的重要儀器,可以分析各種微波器件和組件。它具有頻域和時(shí)域兩類測(cè)試功能,可以很好地完成諸如濾波器、放大器、混頻器以及系統(tǒng)中有源和無(wú)源微波組合等的各種參數(shù)的調(diào)試、測(cè)試?! 駫哳l信號(hào)源: ◆頻率范圍:50KHz~300MHz ◆頻率顯示分辨率:1Hz ◆電平輸出控制范圍:大于58dB ◆系統(tǒng)阻抗: 50Ω ●接收機(jī)輸入指標(biāo): ◆動(dòng)態(tài)范圍:60dB ◆檢波 [ 查看詳細(xì) ]
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