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從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機理
- 摘要:本文闡述了各安全工作區(qū)的物理概念和超安全工作區(qū)工作的失效機理。討論了短路持續(xù)時間Tsc和柵壓Vg、集電極—發(fā)射極導通電壓Vce(on)及短路電流Isc的關(guān)系。 關(guān)鍵詞:安全工作區(qū) 失效機理 短路電流Tsc 1、 引言 半導體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進行換效分析也是十分困難和復雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)(Safe Operating Area簡稱SOA)使用引起的。因此全面了解SOA,并在使用中將IGBT的最大直流電流IC和集電極—發(fā)射極電
- 關(guān)鍵字: 安全工作區(qū) 失效機理 短路電流Tsc 電源
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