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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 離子清潔度測(cè)試

離子清潔度測(cè)試方法：ROSE、離子色譜IC和C3

  • 在元器件封裝或組裝工藝中，雖然有些污染物僅僅影響產(chǎn)品外觀，但離子型污染物在潮濕或存在電位差的條件下，會(huì)導(dǎo)致電化學(xué)腐蝕及漏電失效，在高溫、高濕和偏置電壓共同作用下會(huì)出現(xiàn)電化學(xué)遷移等失效。因此，管控離子型污染物已經(jīng)成為高可靠性產(chǎn)品生產(chǎn)制造中的必要環(huán)節(jié)。??????????????????????
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離子清潔度測(cè)試介紹

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