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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 自動(dòng)化測(cè)試

NI發(fā)布《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》

  • 　　美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)于近日發(fā)布《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》，分享了公司對(duì)最新測(cè)試測(cè)量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 本報(bào)告探究了受發(fā)展趨勢(shì)影響的各個(gè)行業(yè)，包括航空航天和國(guó)防、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電信以及交通。 工程師和管理人員可以根據(jù)這份報(bào)告，采取最新策略和最佳方式來對(duì)測(cè)試公司進(jìn)行優(yōu)化。 　　《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》中包含以下幾個(gè)趨勢(shì)： 　　測(cè)試中的經(jīng)濟(jì)學(xué): 新的投資模式迫使很多部門重新衡量成功的方式。 　　海量模擬數(shù)據(jù)： 工業(yè)領(lǐng)先的
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NI發(fā)布《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)于近日發(fā)布《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》，分享了公司對(duì)最新測(cè)試測(cè)量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 本報(bào)告探究了受發(fā)展趨勢(shì)影響的各個(gè)行業(yè)，包括航空航天和國(guó)防、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電信以及交通。工程師和管理人員可以根據(jù)這份報(bào)告，采取最新策略和最佳方式來對(duì)測(cè)試公司進(jìn)行優(yōu)化。
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使用NI軟件與PXI硬件，進(jìn)行高性能、點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)的 高級(jí)無(wú)線電系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試

  • NI軟硬件平臺(tái)的功能與靈活性，可幫助我們有效開發(fā)高度穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)、滿足客戶的所有需求，并能確保配合產(chǎn)品...
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NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
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自動(dòng)化測(cè)試解決之道--構(gòu)建以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)

基于PXI Express的NI FlexRIO模塊滿足自動(dòng)化測(cè)試需求

  • 自從1997年基于FPGA的可重配置I/O（RIO）產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)會(huì)議上首次亮相以來，NI已發(fā)布了多種基于NIR...
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PXI TAC 2010:展望未來自動(dòng)化測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)

  • 作為測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái)，PXI正在以年復(fù)合增長(zhǎng)率17.6%的速度在多個(gè)行業(yè)得到應(yīng)用。而深受行業(yè)廠商及工程師歡迎的年度技術(shù)盛會(huì) PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇(PXI Technology and Application Conference，簡(jiǎn)稱PXI
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利用NI LabVIEW優(yōu)化多核處理器環(huán)境下的自動(dòng)化測(cè)試

  • 多線程編程的挑戰(zhàn)迄今為止，處理器技術(shù)的創(chuàng)新為我們帶來了配有工作于更高時(shí)鐘速率的CPU的計(jì)算機(jī)。然而，隨著時(shí)鐘速率逼近其理論上的物理極限，人們開始投入到具備多個(gè)處理核的新型處理器的開發(fā)。借助這些新型多核處理
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基于NI TestStand 和LabVIEW 開發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

  • 行業(yè)趨勢(shì)：當(dāng)今市場(chǎng)上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以...
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智能手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試方案

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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泛華恒興參加華南自動(dòng)化展貨架、系統(tǒng)產(chǎn)品齊亮相

  • 作為致力于為各行業(yè)用戶提供專業(yè)測(cè)試測(cè)量解決方案和成套檢測(cè)設(shè)備的高新技術(shù)企業(yè)，北京泛華恒興科技有限公司(簡(jiǎn)稱：泛華恒興)參加了2012年深圳華南自動(dòng)化展，并參加了中國(guó)電源學(xué)會(huì)電源技術(shù)分會(huì)活動(dòng)，這也是泛華首次有規(guī)模地參加華南市場(chǎng)的大型展會(huì)。
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多路三軸光纖陀螺自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

  • 摘要 因三軸光纖陀螺的測(cè)試過程復(fù)雜、耗時(shí)長(zhǎng)、測(cè)試效率低。提出了一種多路三軸光纖陀螺自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)方案。敘述了測(cè)試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)思想并給出了完成自動(dòng)化測(cè)試、軟件設(shè)計(jì)方法及組建方案。測(cè)試結(jié)果表明，該系統(tǒng)能
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NI 發(fā)布《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》

  • 新聞要點(diǎn) 　　· 該趨勢(shì)展望報(bào)告探討了影響當(dāng)前和未來的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O。 　　· 經(jīng)過多年的自動(dòng)化測(cè)試，NI從其商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專業(yè)知識(shí)和第三方研究中吸取經(jīng)驗(yàn)，并提出了行業(yè)內(nèi)最新、最為全面的見解。 　　· 報(bào)告中著重介紹了新興的移動(dòng)設(shè)備如何改變行業(yè)架構(gòu)，公司機(jī)構(gòu)如何通過建立測(cè)試組織來奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢(shì)。
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基于LabVIEW的汽車門把手傳感器測(cè)試系統(tǒng)

  • 本文介紹了一種基于NI-PCI的數(shù)據(jù)采集進(jìn)行設(shè)計(jì)的汽車門把手傳感器測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)針對(duì)BRIC型DHS的特殊外形和特殊測(cè)試需求，對(duì)系統(tǒng)的控制性和測(cè)量的準(zhǔn)確性做了優(yōu)良的設(shè)計(jì)，提高了設(shè)備的自動(dòng)化程度。在保證了系統(tǒng)的安全性、可靠性和Poka-Yoke要求的同時(shí)，也適合大批量、高穩(wěn)定性測(cè)試需要。
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自動(dòng)化測(cè)試介紹

　　自動(dòng)化測(cè)試 　　一般是指軟件測(cè)試的自動(dòng)化，軟件測(cè)試就是在預(yù)設(shè)條件下運(yùn)行系統(tǒng)或應(yīng)用程序，評(píng)估運(yùn)行結(jié)果，預(yù)先條件應(yīng)包括正常條件和異常條件。 　　1定義 　　自動(dòng)化測(cè)試 是把以人為驅(qū)動(dòng)的測(cè)試行為轉(zhuǎn)化為機(jī)器執(zhí)行的一種過程。通常，在設(shè)計(jì)了測(cè)試用例并通過評(píng)審之后，由測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試用例中描述的規(guī)程一步步執(zhí)行測(cè)試，得到實(shí)際結(jié)果與期望結(jié)果的比較。在此過程中，為了節(jié)省人力、時(shí)間或硬件資源，提高測(cè)試效率，便 [ 查看詳細(xì) ]

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