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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 輻射發(fā)射測(cè)試

輻射發(fā)射測(cè)試:如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

  • 出于各種原因,電子系統(tǒng)需要實(shí)施隔離。它的作用是保護(hù)人員和設(shè)備不受高電壓的影響,或者僅僅是消除PCB上不需要的接地回路。在各種各樣的應(yīng)用中,包括工廠和工業(yè)自動(dòng)化、醫(yī)療設(shè)備、通信和消費(fèi)類產(chǎn)品,它都是一個(gè)基本設(shè)計(jì)元素。雖然隔離至關(guān)重要,但它的設(shè)計(jì)也極其復(fù)雜??刂乒β屎蛿?shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)隔離柵時(shí),會(huì)產(chǎn)生電磁干擾(EMI)。這些輻射發(fā)射(RE)會(huì)對(duì)其他電子系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)的性能產(chǎn)生負(fù)面影響。對(duì)于帶隔離的電路設(shè)計(jì),一個(gè)重要的步驟是跨隔離柵傳輸功率,并緩解產(chǎn)生的RE。雖然傳統(tǒng)方法可能行之有效,但它們往往需要權(quán)衡取舍。其中可能包括使
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輻射發(fā)射測(cè)試介紹

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