長(zhǎng)期漂移 文章 進(jìn)入長(zhǎng)期漂移技術(shù)社區(qū)

電子元件老化——電壓基準(zhǔn)中的長(zhǎng)期漂移（LTD）

• 了解制造商如何表征和估計(jì)用于電子元件老化預(yù)測(cè)的電壓參考的長(zhǎng)期漂移（LTD）。雖然電壓參考的輸出在理想情況下應(yīng)該與溫度和時(shí)間無(wú)關(guān)，但現(xiàn)實(shí)世界的電壓參考可能會(huì)受到溫度和老化的影響。考慮到這一點(diǎn)，本文將討論制造商如何表征和估計(jì)電壓參考的LTD。為了更好地為本文做好準(zhǔn)備，閱讀之前的文章以了解石英晶體、電阻器和放大器的老化效應(yīng)可能很重要。電壓基準(zhǔn)的老化效應(yīng)總的來(lái)說(shuō)，電壓基準(zhǔn)的輸出會(huì)隨時(shí)間而變化。通常，半導(dǎo)體材料的摻雜水平和封裝材料施加到電壓參考管芯的物理應(yīng)力會(huì)隨時(shí)間變化，導(dǎo)致電壓參考輸出中的LTD。電壓參考的LTD
• 關(guān)鍵字： 電子元件老化，電壓基準(zhǔn)，長(zhǎng)期漂移，LTD