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使JTAG邊界掃描與功能測(cè)試相結(jié)合

  • 生產(chǎn)后的中度復(fù)雜的印刷電路板（PCB）傳統(tǒng)上使用在線測(cè)試（ICT）和功能測(cè)試來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。其它的測(cè)試方法，例如昂貴的光學(xué)和X光檢查，經(jīng)常是
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jtag邊界掃描功能測(cè)介紹

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