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基于線性提升和高速低噪聲比較器技術(shù)的10 bit 160 MSPS SAR ADC設(shè)計(jì)

  • 基于采樣管p阱浮空技術(shù)用于寄生電容電荷補(bǔ)償,實(shí)現(xiàn)采樣開關(guān)高線性度。使串聯(lián)的兩個(gè)寄生電容的容值變化方向相反,從而實(shí)現(xiàn)了容值的相互補(bǔ)償,使輸入管的寄生電容容值不隨輸入信號(hào)幅度變化,相較傳統(tǒng)技術(shù),采樣開關(guān)的線性度得到進(jìn)一步提高。另一方面,提出了一種高速低噪聲動(dòng)態(tài)比較器技術(shù),減小了MOS管的導(dǎo)通電阻,增加了比較器速度,通過襯底自舉技術(shù),使比較器輸入管的閾值電壓明顯降低,跨導(dǎo)增加,從而降低了比較器的等效輸入噪聲,解決了動(dòng)態(tài)比較器速度和噪聲之間必須進(jìn)行折中的技術(shù)難點(diǎn)。
  • 關(guān)鍵字: 10 bit 160 MSPS  采樣管p阱浮空技術(shù)  高速低噪聲比較器  202112  

樹莓派不孤單,BBC推出可編程微型電腦Micro:bit

  • 樹莓派不孤單,BBC推出可編程微型電腦Micro:bit-據(jù)報(bào)道,自Raspberry Pi(樹莓派)推出以來,就陸續(xù)有不少同類的產(chǎn)品出來讓更多人能以低成本學(xué)習(xí)編程。萬萬想不到,原來英國(guó)廣播公司(BBC)也有推出相似的產(chǎn)品,更有了第二代 Micro:bit。
  • 關(guān)鍵字: 開源硬件  Micro:bit  

提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性的一種方法

  • 提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性的一種方法-隨著集成電路設(shè)計(jì)方法與工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步,集成電路的可測(cè)性已經(jīng)成為提高產(chǎn)品可靠性和成品率的重要因素。文中針對(duì)遙測(cè)產(chǎn)品中信號(hào)處理器的設(shè)計(jì)原理,通過增加BIT以提高信號(hào)處理器的測(cè)試覆蓋率。
  • 關(guān)鍵字: FPGA  BIT  

51、PIC、AVR、16、32-BIT系列單片機(jī)區(qū)別與特點(diǎn)

  • 51、PIC、AVR、16、32-BIT系列單片機(jī)區(qū)別與特點(diǎn)-8031片內(nèi)不帶程序存儲(chǔ)器ROM,使用時(shí)用戶需外接程序存儲(chǔ)器和一片邏輯電路373,外接的程序存儲(chǔ)器多為EPROM的2764系列。用戶若想對(duì)寫入到EPROM中的程序進(jìn)行修改,必須先用一種特殊的紫外線燈將其照射擦除,之后再可寫入。寫入到外接程序存儲(chǔ)器的程序代碼沒有什么保密性可言。
  • 關(guān)鍵字: 51  PIC  AVR  32-BIT  

一種用于13 bit 40 MS/s流水線ADC中的采樣保持電路設(shè)計(jì)

  • 近年來,隨著通信和多媒體市場(chǎng)的快速增長(zhǎng),數(shù)字系統(tǒng)無論在處理能力還是處理速度上都取得了飛速的發(fā)展,因此對(duì)作為模擬信號(hào)通向數(shù)字信號(hào)橋梁的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的性能要求也越來越高 [1]。在各種ADC結(jié)構(gòu)中,流水線ADC在
  • 關(guān)鍵字: bit  ADC  MS    

中國(guó)電子學(xué)會(huì)Xilinx開放源碼硬件創(chuàng)新大賽53支強(qiáng)隊(duì)入圍復(fù)賽

  • ?  自2007年6月正式開始的覆蓋全國(guó)高校的“中國(guó)電子學(xué)會(huì)Xilinx開放源碼硬件創(chuàng)新大賽”初賽經(jīng)過大賽組委會(huì)的認(rèn)真篩選,來自34所高校的53支隊(duì)伍從170多支參賽隊(duì)伍中脫穎而出,入圍復(fù)賽階段。入圍隊(duì)伍中,大連理工,清華,電子科大,?西安電子科大等表現(xiàn)突出,?僅大連理工就有6支隊(duì)伍進(jìn)入復(fù)賽?! ¢_賽以來,包括清華、北大、中國(guó)電子科技大學(xué)、西安電子科技大學(xué)、中國(guó)科技大學(xué)等在內(nèi)的近50所高校學(xué)生踴躍報(bào)名,?共有170多只隊(duì)伍的1000多位在校研究生和博士生在導(dǎo)師的帶領(lǐng)
  • 關(guān)鍵字: Xilinx  SRC  BIT  消費(fèi)電子  

一種單端10-bit SAR ADC IP核的設(shè)計(jì)

  • 摘要:本設(shè)計(jì)通過采用分割電容陣列對(duì)DAC進(jìn)行優(yōu)化,在減小了D/A轉(zhuǎn)換開關(guān)消耗的能量、提高速度的基礎(chǔ)上,實(shí)現(xiàn)了一款采樣速度為1MS /s的10-bit單端逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。使用cadence spectre工具進(jìn)行仿真,仿真結(jié)果表
  • 關(guān)鍵字: IP  設(shè)計(jì)  ADC  SAR  10-bit  單端  

基于內(nèi)裝測(cè)試(BIT)技術(shù)的裝備控制系統(tǒng)故障診斷

  • 引言  內(nèi)裝測(cè)試(BIT)是20世紀(jì)70年代美國(guó)在軍用測(cè)試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念,其目的在于改善裝備的維修性、測(cè)試性和自診斷能力,同時(shí)也使裝備系統(tǒng)的機(jī)動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀(jì)70年代以來,以航天航空等國(guó)
  • 關(guān)鍵字: BIT  內(nèi)裝  測(cè)試  故障診斷    

航天測(cè)控:系統(tǒng)級(jí)BIT設(shè)計(jì)及BIT驗(yàn)證技術(shù)

  • 系統(tǒng)級(jí)BIT是監(jiān)控系統(tǒng)關(guān)鍵功能、檢測(cè)隔離系統(tǒng)級(jí)故障的主要手段和方法,也是可測(cè)試性設(shè)計(jì)的關(guān)鍵部分。而系...
  • 關(guān)鍵字: 航天測(cè)控  BIT  驗(yàn)證技術(shù)  故障注入  

一種用于13 bit 40 MS/s流水線ADC中的采樣保持電路

  • 近年來,隨著通信和多媒體市場(chǎng)的快速增長(zhǎng),數(shù)字系統(tǒng)無論在處理能力還是處理速度上都取得了飛速的發(fā)展,因此對(duì)作為模擬信號(hào)通向數(shù)字信號(hào)橋梁的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的性能要求也越來越高 [1]。在各種ADC結(jié)構(gòu)中,流水線ADC在
  • 關(guān)鍵字: bit  ADC  40  MS    

16-bit MCU實(shí)現(xiàn)超低功耗運(yùn)動(dòng)檢測(cè)

  • 諧振LC傳感器技術(shù)用于運(yùn)動(dòng)檢測(cè)已有數(shù)年,包括流量計(jì)量以及其它低速轉(zhuǎn)動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)等。幾乎在所有情況下,推動(dòng)上...
  • 關(guān)鍵字: 16-bit  MCU實(shí)  LC  傳感器  

采用16-bit MCU實(shí)現(xiàn)超低功耗運(yùn)動(dòng)檢測(cè)

  • 諧振 LC 傳感器技術(shù)用于運(yùn)動(dòng)檢測(cè)已有數(shù)年,包括流量計(jì)量以及其它低速轉(zhuǎn)動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)等。幾乎在所有情況下,推動(dòng)上述傳感器設(shè)計(jì)發(fā)展的共同主線都是低功耗解決方案的需求,它通常為電池供電設(shè)備的低功耗解決方案。通過模
  • 關(guān)鍵字: 功耗  運(yùn)動(dòng)  檢測(cè)  超低  實(shí)現(xiàn)  16-bit  MCU  采用  

bit和byte的關(guān)系及區(qū)別

  • bit和byte的關(guān)系:一byte等于8bitbit意為“位”或“比特”,是計(jì)算機(jī)運(yùn)算的基礎(chǔ),屬于二進(jìn)制的范籌; Byte意為“ ...
  • 關(guān)鍵字: bit  byte  區(qū)別  

基于BIT技術(shù)的裝備控制系統(tǒng)故障診斷

  • 引言  內(nèi)裝測(cè)試(BIT)是20世紀(jì)70年代美國(guó)在軍用測(cè)試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念,其目的在于改善裝備的維修性、測(cè)試性和自診斷能力,同時(shí)也使裝備系統(tǒng)的機(jī)動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀(jì)70年代以來,以航天航空等國(guó)
  • 關(guān)鍵字: BIT  裝備控制  系統(tǒng)  故障診斷    

BIT技術(shù)在裝備控制系統(tǒng)故障診斷中的應(yīng)用

  •   BIT系統(tǒng)   內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)包括信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、故障診斷、自激勵(lì)模塊和通訊電纜輸出模塊六部分(見圖1)。模擬電壓采集中信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)完成對(duì)信號(hào)的差分放大、濾波和限幅等調(diào)理工作。邏輯量、頻率量、時(shí)間量和脈沖量采集中的信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)完成對(duì)信號(hào)的限幅和數(shù)據(jù)緩沖等調(diào)理工作。光電隔離主要是為了把所測(cè)量的信號(hào)和計(jì)算機(jī)相隔離,這樣可以確保數(shù)據(jù)采集的讀數(shù)不會(huì)受到接地電勢(shì)差或共模電壓的影響。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊主要用來存儲(chǔ)一些內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)的診斷信息,包括測(cè)量的數(shù)字信息、設(shè)備上的模
  • 關(guān)鍵字: BIT  A/D  裝備控制  
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