首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> c/s

微軟詳解 .NET 語言戰(zhàn)略:C#、VB、F# 都不落

  •   今天在升級Skype應(yīng)用的同時,微軟承諾“改進(jìn)質(zhì)量和更好的性能”。為了提供最新的使用體驗,將會關(guān)閉軟件開發(fā)是微軟相當(dāng)重視的事情,比如該公司近期宣布了一個 Visual Studio 2017 RC 更新、以及面向三星 Tizen 平臺的 Visual Studio 工具箱第二預(yù)覽版,表明其有意加大跨平臺開發(fā)等方面的力度。在近日的一篇博客文章中,微軟更是詳細(xì)介紹了其 .NET 語言戰(zhàn)略
  • 關(guān)鍵字: 微軟  C#  

硅谷數(shù)模為手機(jī)VR推出DisplayPort USB-C方案

  •   “如果你的女朋友想去巴黎旅游,你又沒得到足夠的年終獎,可以給他買一套VR設(shè)備,她便可以去到塞納河?!惫韫葦?shù)模半導(dǎo)體公司(Analogix)的產(chǎn)品經(jīng)理胡偉民向電子產(chǎn)品世界的編輯描繪了VR的有趣應(yīng)用,并預(yù)測年輕人是最熱衷于VR產(chǎn)品的群體。據(jù)介紹,未來通過手機(jī)實現(xiàn)VR(虛擬現(xiàn)實),只要有一根有DisplayPort協(xié)議的USB-C線連接手機(jī)和眼鏡/頭盔即可?! 『鷤ッ袷窃谌涨吧钲谂e辦的“易維訊第六屆年度中國ICT媒體論壇”上發(fā)表此觀點的。據(jù)他透露,目前已有客戶在開發(fā),估計2017年會有DisplayPort
  • 關(guān)鍵字: 硅谷數(shù)模   USB-C  

軟硬結(jié)合——酷我音樂盒的逆天玩法

  •   1、靈感來源:  LZ是純宅男,一天從早上8:00起一直要呆在電腦旁到晚上12:00左右吧~平時也沒人來閑聊幾句,刷空間暑假也沒啥動態(tài),聽音樂吧...~有些確實不好聽,于是就不得不打斷手頭的工作去點擊下一曲或是找個好聽的歌來聽...但是,[移動手鎖定鼠標(biāo)-->移動鼠標(biāo)關(guān)閉當(dāng)前頁面選擇音樂軟件頁面-->選擇合適的音樂-->恢復(fù)原來的界面] 這一過程也會煩人不少,如果說軟件的設(shè)計要在用戶體驗上做足功夫,感覺這一點是軟件設(shè)計人員很難管住的方面,畢竟操作系統(tǒng)也就這樣安排的嘛(當(dāng)然,
  • 關(guān)鍵字: C#  串口  

R&S先進(jìn)IC測試方案,全面助力萬物互連時代的IC設(shè)計應(yīng)用

  •   2016年12月12日-16日,羅德與施瓦茨公司在北京、上海和深圳三地成功舉辦了“2016年R&S射頻集成電路測試技術(shù)研討會”。260多名來自各種IC設(shè)計企業(yè)的用戶代表參加了本次研討會,共同交流和分享了IC 測試領(lǐng)域的產(chǎn)品和方案,不僅提升了羅德與施瓦茨在IC 行業(yè)的產(chǎn)品競爭力,而且對整個IC設(shè)計行業(yè)的發(fā)展和進(jìn)步起到了促進(jìn)作用。   在本次活動上,R&S的技術(shù)專家詳細(xì)介紹了其領(lǐng)先的針對IoT 和通用IC設(shè)計與測試的產(chǎn)品和解決方案,包括最新IoT芯片測試技術(shù),
  • 關(guān)鍵字: R&S  IC設(shè)計  

Type-C接口優(yōu)勢多 大受手機(jī)廠商追捧

  • 從產(chǎn)業(yè)鏈自上而下看,USB協(xié)會、標(biāo)準(zhǔn)制定、接口芯片、代工廠和消費終端的業(yè)界巨頭都不遺余力推進(jìn)USB-C的普及,最受益的即是Type-C連接器/線纜廠商。
  • 關(guān)鍵字: Type-C  USB  

大聯(lián)大世平推出基于Nuvoton的可應(yīng)用于VR的Type-C 數(shù)字耳機(jī)解決方案

  •   近日,致力于亞太地區(qū)市場的領(lǐng)先半導(dǎo)體元器件分銷商---大聯(lián)大控股宣布,其旗下世平推出基于新唐科技(Nuvoton)的可應(yīng)用于VR系統(tǒng)的Type-C數(shù)字耳機(jī)解決方案?! ?nbsp;    圖示1-采用USB-Type C接口的數(shù)字耳機(jī)  根據(jù)IHS Technology的報告預(yù)測,USB-Type C接口使用量最大的市場將集中在智能手機(jī)、平板和筆記本電腦上。從蘋果在最新一代手機(jī)上取消傳統(tǒng)3.5mm接口開始,USB-Type C等數(shù)字接口的應(yīng)用范圍和速
  • 關(guān)鍵字: 大聯(lián)大  Type-C  

賽普拉斯推出業(yè)內(nèi)首款USB-C HDMI Alt模式解決方案,使筆記本電腦、智能手機(jī)和數(shù)碼相機(jī)直接連接HDMI電視

  •   全球領(lǐng)先的USB-C? 供應(yīng)商賽普拉斯半導(dǎo)體公司于今日宣布推出全球首款無需適配器或轉(zhuǎn)換器的完整的USB-C 至HDMI?連接解決方案。該解決方案以 Cypress EZ-PD?USB-C 控制器為基礎(chǔ),使配備USB-C連接器的下一代筆記本電腦、智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)碼相機(jī)和其他HDMI源設(shè)備能夠直接使用USB-C轉(zhuǎn)HDMI線纜連接至HDMI顯示設(shè)備,包括高清和4K電視等。目前,所有賽普拉斯EZ-PD控制器均可支持 USB Type-
  • 關(guān)鍵字: 賽普拉斯  USB-C  

三星將在CES 2017上展示為孩子與護(hù)膚所打造的C-Lab項目

  • 今日,三星電子宣布,鑒于去年與C-Lab創(chuàng)意實驗室相關(guān)的展示活動所取得的成功,將在CES 2017的Eureka Park展區(qū)中再次展示C-Lab打造的三項成果。作為一項創(chuàng)立于2012年12月的創(chuàng)業(yè)商業(yè)計劃,C-Lab創(chuàng)意實驗室有望充分激發(fā)富有創(chuàng)造力的企業(yè)文化,還重在培育來自三星員工的新奇創(chuàng)意。這項計劃對各種業(yè)務(wù)領(lǐng)域發(fā)展起來的創(chuàng)意都會提供支持。將在本次CES 2017上進(jìn)行展示的項目包括這三項:Tag+是一款能夠為孩子們的玩具增添特殊功能的電子設(shè)備;S-Skin是一套幫助家庭
  • 關(guān)鍵字: Tag+  S-Skin  Lumini  

小接口背后有大秘密 關(guān)于USB接口你需要知道這些

  • 接口與協(xié)議的關(guān)系好比瓶子和酒的關(guān)系,接口就像是酒瓶,而協(xié)議就是里面的酒,換句話說,USB接口只是一種物理接口,采用什么協(xié)議,只是一種選擇而已。
  • 關(guān)鍵字: USB  Type-C  

R&S?ESW 測試接收機(jī)為認(rèn)證測試提供快速可靠的測試方案

  • 由于需要高度復(fù)雜的認(rèn)證和研發(fā)測試,航空航天與國防電子(AD)和汽車行業(yè)正呼吁一款具有杰出性能的EMI測試接收機(jī)。羅德與施瓦茨在杜塞爾多
  • 關(guān)鍵字: R&S?ESW測試接收  

C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差 I

  • 偏移[1]和增益誤差[2](如圖7所示)是C-V測量中最常見的誤差。X軸以對數(shù)標(biāo)度的方式給出了電容的真實值,大小范圍從皮法到納法。Y軸表示系統(tǒng)
  • 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)技巧與陷阱測量誤  

C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差I(lǐng)I

  • 線纜長度補(bǔ)償是一種經(jīng)常被忽視的校正技術(shù)。它是針對儀器廠商提供的某些特殊線纜進(jìn)行相位偏移校正的。交流信號沿著線纜傳輸需要一定的時間,
  • 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)技巧與陷阱測量誤  

C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——基于數(shù)字源表的準(zhǔn)靜態(tài)電容測

  • 在準(zhǔn)靜態(tài)電容測量[1]中,我們通過測量電流和電荷來計算電容值。這種斜率方法使用簡單,但是它的頻率范圍有限(1~10Hz),因而只能用于一些
  • 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)數(shù)字源表靜態(tài)電  

C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱—— C-V測量方法與應(yīng)用的匹配

  • 交流阻抗技術(shù)是最常用的電容測量技術(shù)[1]。它最適合于一般的低功率門電路,也適用于大多數(shù)測試結(jié)構(gòu)和大多數(shù)探針。其優(yōu)勢在于所需的設(shè)備相對
  • 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)匹  

C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱—— C-V測量參數(shù)提取的局限性

  • 在探討C-V測試系統(tǒng)的配置方法之前,了解半導(dǎo)體C-V測量技術(shù)[1]的局限性是很重要的:·電容:從10fF到1微法·電阻:從01歐姆到100M歐姆·
  • 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)參數(shù)提  
共1414條 32/95 |‹ « 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 » ›|

c/s介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條c/s!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對c/s的理解,并與今后在此搜索c/s的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

MMC/SD卡    樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473