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OFDM水聲通信信道估計技術(shù)研究
- 水聲信道是一個十分復(fù)雜的時-空-頻變信道,其主要特征是復(fù)雜性、多變性、強多途和有限帶寬。聲傳播損失和海水吸收損失使得水聲信道帶寬受到極大限制,海洋水聲信道中多徑效應(yīng)的存在造成接收信號的畸變和嚴重的碼間干擾,給水聲通信系統(tǒng)的設(shè)計帶來了巨大的困難,信道中的相位起伏使得載波恢復(fù)和相干解調(diào)變得十分困難。在常用的高速水聲通信技術(shù)中,采用相位相干(PSK/QAM)調(diào)制要面對信道起伏時的相干解調(diào)問題,而且要適應(yīng)收發(fā)端相對運動所帶來的多普勒頻移。OFDM作為一種可有效對抗碼間干擾、頻譜利用率高的高速傳輸系統(tǒng),引起人們
- 關(guān)鍵字: OFDM 水聲信道 D/A 通信基礎(chǔ)
HOLTEK新推出8位HT46R4A于A/D型MCU
- HT46R4A是HOLTEK半導(dǎo)體新推出8位精簡A/D型MCU,內(nèi)建9位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,具有4K Word OTP程序內(nèi)存、192 Byte數(shù)據(jù)存儲器, 6-level stack等規(guī)格,在封裝方面提供44-Pin QFP, 32-Pin DIP及28-Pin SKDIP/SOP等封裝。適用于家電、車用周邊及其它智能控制的產(chǎn)品,其精簡的架構(gòu)提供使用者一個具有優(yōu)異性價比的解決方案。 HT46R4A使用HOLTEK半導(dǎo)體的8位微控制器核心,兼具實用的周邊電路,例如內(nèi)建6信道9位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器
- 關(guān)鍵字: HOLTEK A/D MCU MCU和嵌入式微處理器
超低輸入電壓升壓電路解決方案
- 便攜式產(chǎn)品一般都采用電池供電,而因為成本和體積方面的考慮,在設(shè)計上有減少使用電池數(shù)量及體積的趨勢。另外,亦因全球能源問題,各種各類的電池使用已備受關(guān)注了。當(dāng)中包括太陽能電池及燃料電池。 而這樣就會影響到電源電壓比設(shè)備所需的工作電壓為低。這時候,就必須要追加升壓電路了。一般使用的是DC/DC升壓轉(zhuǎn)換器。 而在這超低輸入電壓的情況下,設(shè)計工程師就會面臨以下的難題。 1 開關(guān)器件的驅(qū)動問題。 2 升壓電路的啟動問題。 3 最大占空比MaxDuty的問題。 在這三個主要問題
- 關(guān)鍵字: DC/D 轉(zhuǎn)換器 模擬技術(shù) 電源技術(shù) 模擬IC 電源
一種采用雙采樣技術(shù)的高性能采樣保持電路
- 1 引 言 隨著技術(shù)的發(fā)展,高速度高精度已成為流水線A/D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計目標,而采樣/保持電路作為流水線結(jié)構(gòu)A/D轉(zhuǎn)換器的核心部分,他的性能決定了整個A/D轉(zhuǎn)換器的性能。因此,設(shè)計一個高速高精度的采樣保持電路就顯得尤為重要。采樣保持電路的精度要求一般受限于運 放的有限增益和開關(guān)電路引起的誤差。一方面,運放并非理想運放,他存在著增益誤差;另一方面由于采樣保持電路是一種開關(guān)電容電路的運用,他本身存在的開關(guān)電荷注入效應(yīng)[1]和時鐘潰通,以及開關(guān)導(dǎo)通電阻的非線性[2],都會影響采樣保持電路的精度。對
- 關(guān)鍵字: 模擬技術(shù) 電源技術(shù) A/D 轉(zhuǎn)換器 模擬IC
TLC1549串口傳輸與單片機的A/D設(shè)計
- 1 概述 TLC1549系列是美國德州儀器公司生產(chǎn)的具有串行控制、連續(xù)逐次逼近型的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,它采用兩個差分基準電壓高阻輸入和一個三態(tài)輸出構(gòu)成三線接口,其中三態(tài)輸出分別為片選(CS低電平有效),輸入/輸出時鐘(I/O CLOCK),數(shù)據(jù)輸出(DATAOUT)。TLC1549引腳排列如圖1所示。TLC1549能以串行方式送給單片機,其功能結(jié)構(gòu)如圖2所示。由于TLC1549采用CMOS工藝。內(nèi)部具有自動采樣保持、可按比例量程校準轉(zhuǎn)換范圍、抗噪聲干擾功能,而且開關(guān)電容設(shè)計使在滿刻度時總誤差最大僅為
- 關(guān)鍵字: 模擬技術(shù) 電源技術(shù) TLC1549 串口 A/D 模擬IC
基于LabVIW的光纖水聽器閉環(huán)工作點控制系統(tǒng)
- 1 引 言 干涉型光纖水聽器由于輸出的相位調(diào)制信號與外界聲信號成非線性關(guān)系,而且受溫度變化、壓力波動和機械抖動等因素的影響,兩臂相位差會隨機漂移,從而引起信號幅度的隨機漲落,即相位衰落現(xiàn)象。因此,其信號檢測比其它類型的光纖水聽器要困難得多。伴隨著光纖水聽器技術(shù)近30年的發(fā)展,出現(xiàn)了許多抗相位衰落的信號檢測方法[1~9],其中閉環(huán)工作點控制屬于主動相位補償?shù)囊环N,具有簡單、線性度好和抗光源相位噪聲等優(yōu)點[1,6],但是干涉儀中壓電陶瓷(PZT)的引入,大大降低了系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性,且操作不方便。
- 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機 A/D LabVIW 正弦信號 測試工具
基于PDM的D/A轉(zhuǎn)換技術(shù)
- 1 引言 在數(shù)字信號處理中,常常需要將多位數(shù)字信號轉(zhuǎn)化為一位數(shù)字信號。例如,在通信領(lǐng)域,接收器接收到經(jīng)過編碼的數(shù)字語音信號,需將他轉(zhuǎn)化為模擬信號,即將原來的模擬語音信號復(fù)原。經(jīng)過編碼的語音信號,通常是多位的比特流。因此,如何將多位比特流轉(zhuǎn)化為模擬語音信號,便成為保證通信質(zhì)量的關(guān)鍵。又如,在一些控制電路中,控制信號是經(jīng)過計算生成的多位數(shù)字信號,而這些數(shù)字信號必須轉(zhuǎn)化為模擬信號才能對電路進行控制。因此,如何將多位數(shù)字信號轉(zhuǎn)化為符合實際要求的模擬信號,則成為控制電路設(shè)計
- 關(guān)鍵字: 模擬技術(shù) 電源技術(shù) PDM D/A 轉(zhuǎn)換技術(shù) 模擬IC 電源
提高PIC16C711單片機片內(nèi)A/D分辨率的方法
- 目前,單片機中嵌入的A/D一般為8位到10位,難以滿足信號處理應(yīng)用中高分辨率的要求;而外接高分辨率的A/D將使成本明顯提高,因為A/D轉(zhuǎn)換器的價格將隨其位數(shù)的增加而成倍增加。本文介紹一種提高PIC16C711單片機片內(nèi)A/D分辨率的方法,將PIC16C711片內(nèi)的8位A/D提高到11位。這種方法在PIC系列的其他單片機也適用。 美國Microchip公司推出的8位單片機PIC16C711是一種性能價格比很高的單片機。它價格低、封裝小、采用CMOS工藝,具有OTP型,開發(fā)起來很方便。它內(nèi)含4路8位高
- 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機 PIC16C711 A/D 嵌入式
提高PIC16C711單片機片內(nèi)A/D分辨率的方法
- 摘要:介紹一種將PIC16C711片內(nèi)8位A/D提高到11位的方法。此方法電路簡單,速度快,可提高單片機應(yīng)用系統(tǒng)的性能價格比,具有一定的推廣價值。 關(guān)鍵詞:PIC16C711 單片機 A/D 分辨率 目前,單片機中嵌入的A/D一般為8位到10位,難以滿足信號處理應(yīng)用中高分辨率的要求;而外接高分辨率的A/D將使成本明顯提高,因為A/D轉(zhuǎn)換器的價格將隨其位數(shù)的增加而成倍增加。本文介紹一種提高PIC16C711單片機片內(nèi)A/D分辨率的方法,將PIC16C711
- 關(guān)鍵字: PIC16C711 單片機 A/D 分辨率 MCU和嵌入式微處理器
一種用單片機控制的光譜數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
- 摘要:介紹利用單片機和A/D器件MAX120等構(gòu)成的光譜信號采集系統(tǒng),由單片機控制A/D產(chǎn)生不同的采樣頻率,用于光電倍增管和CCD輸出的光譜信號的采集。 關(guān)鍵詞:單片機 A/D 信號采集 光譜 概述 在光譜測量中,常用光電倍增管(PMT)和電荷耦合器件(CCD)作為光電轉(zhuǎn)換器。在慢變化、高精度光譜測量中使用PMT;對于閃光燈、熒光和磷光等強度隨時間變化時的光譜信號則采用CCD。PMT和CCD輸出的信號形式是不同的:光電倍增管輸出的是連續(xù)的模擬信號;CC
- 關(guān)鍵字: 單片機 A/D 信號采集 光譜 MCU和嵌入式微處理器
科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT,用于測試新興的高速計算和消費應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出再次強化了科利登市場領(lǐng)先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設(shè)備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案,在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號,以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍,可為制造商提供突破性的可測性設(shè)計(DFT)方法,助其顯
- 關(guān)鍵字: 測試 測量 科利登 D-6432DFT 測試測量
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