d-mos 文章 進(jìn)入d-mos技術(shù)社區(qū)
基于FPGA的USB側(cè)音測距信號(hào)發(fā)生器設(shè)計(jì)
- 隨著我國航天技術(shù)的不斷進(jìn)步,深空測距技術(shù)受到越來越多的關(guān)注。在深空測距系統(tǒng)中,中頻信號(hào)發(fā)生器對系統(tǒng)性能有著重要的意義。在USB(統(tǒng)一S頻段)系統(tǒng)中,原有的模擬電路實(shí)現(xiàn)的發(fā)射模塊存在性能不完善、輸入動(dòng)態(tài)范圍小、可控性能差、不能適應(yīng)中心頻率大范圍變化、體積大等問題,為了解決上述問題,可在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化通用數(shù)字調(diào)制信號(hào)發(fā)生器的平臺(tái)上,通過外圍的控制電路,實(shí)現(xiàn)對載波中心頻率、輸出功率、調(diào)相指數(shù)、測距音通/斷控制等參數(shù)的改變。
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基于ARM與FPGA控制的LTC2207在寬帶頻率特性測試儀數(shù)據(jù)采集中的應(yīng)用
- 引言數(shù)據(jù)采集技術(shù)是一種流行且實(shí)用的電子技術(shù)。它廣泛應(yīng)用于信號(hào)檢測、信號(hào)處理、儀器儀表等領(lǐng)域。近年來,隨著數(shù)字化技術(shù)的不斷發(fā)展,數(shù)據(jù)采集技術(shù)也呈現(xiàn)出速度更高、通道更多、數(shù)據(jù)量更大的發(fā)展趨勢。本
- 關(guān)鍵字: A/D LTC2207 FPGA 數(shù)據(jù)采集技術(shù)
拯救EMI輻射超標(biāo),開關(guān)電源能做點(diǎn)啥?
- 作為工作于開關(guān)狀態(tài)的能量轉(zhuǎn)換裝置,開關(guān)電源的電壓、電流變化率很高,產(chǎn)生的干擾強(qiáng)度較大;干擾源主要集中在功率開關(guān)期間以及與之相連的散熱器和高平變壓器,相對于數(shù)字電路干擾源的位置較為清楚;開關(guān)頻率不高(從幾十千赫和數(shù)兆赫茲),主要的干擾形式是傳導(dǎo)干擾和近場干擾;而印刷線路板(PCB)走線通常采用手工布線,具有更大的隨意性,這增加了PCB分布
- 關(guān)鍵字: EMI 開關(guān)電源 MOS
DC-DC電路當(dāng)中同步與非同步的差異講解
- 在開關(guān)電源電路設(shè)計(jì)當(dāng)中,電流的轉(zhuǎn)換分為很多種。其中直流轉(zhuǎn)換是較常見的一種設(shè)計(jì)。通常稱為DC-DC轉(zhuǎn)換,是指將一個(gè)電壓值轉(zhuǎn)化為另一個(gè)電壓值電能的裝置。直流轉(zhuǎn)換設(shè)計(jì)在開關(guān)電源當(dāng)中非常常見,也是新手接觸比較多一種電路設(shè)計(jì),本篇文章將為大家介紹這種電路當(dāng)中非同步與同步的區(qū)別。
- 關(guān)鍵字: DC-DC MOS 同步 開關(guān)電源 非同步
多通道A/D轉(zhuǎn)換控制模塊的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 控制信號(hào)中的模擬量傳輸正逐步改為數(shù)字量傳輸,各種非數(shù)字化設(shè)備也必將逐步為數(shù)字化智能產(chǎn)品所取代。但是,在實(shí)際生產(chǎn)現(xiàn)場依然有大量的數(shù)據(jù)是模擬量,例如壓力、液位、溫度等,必須通過A/D轉(zhuǎn)換才能將這些數(shù)據(jù)送到控制系統(tǒng)進(jìn)行分析處理。為滿足實(shí)際需要,本文提出利用MC143150 Neuron芯片和12位串行模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADS7844開發(fā)與設(shè)計(jì)多通道A/D轉(zhuǎn)換控制模塊,實(shí)現(xiàn)了多個(gè)模擬量信號(hào)的并行采集、分析與處理功能,具有精度高和性能可靠等特點(diǎn)。
- 關(guān)鍵字: 多通道 A/D 控制模塊
PIC單片機(jī)與16位串行D/A轉(zhuǎn)換原理
- 下面介紹了基于PIC單片機(jī)與16位串行D/A轉(zhuǎn)換的原理: 1.基本原理 D/A轉(zhuǎn)換器相當(dāng)于一種譯碼電路,它將數(shù)字輸入傳換為模擬輸出: 其中,D是數(shù)字輸入,VR是模擬
- 關(guān)鍵字: D/A轉(zhuǎn)換器 PIC單片機(jī) 模擬輸出
正確理解A/D轉(zhuǎn)換器的輸入
- 正確理解A/D轉(zhuǎn)換器的輸入,許多嵌入式應(yīng)用都會(huì)用到A/D轉(zhuǎn)換器。然而,如果錯(cuò)誤連接了A/D轉(zhuǎn)換器輸入端的電路,就會(huì)無意識(shí)的破壞A/D轉(zhuǎn)換的測量。
- 關(guān)鍵字: A/D 轉(zhuǎn)換器 S/H
電力數(shù)據(jù)采集A/D轉(zhuǎn)換器的選擇方案
- 當(dāng)今社會(huì)對電能質(zhì)量的要求越來越高,國家還專門制定了電能質(zhì)量的國家標(biāo)準(zhǔn)。因此,電能質(zhì)量的測量越來越得到電力用戶的重視。電能測量時(shí),從電網(wǎng)的數(shù)據(jù)采集結(jié)果對其精度的影響起著致關(guān)重要的作用,而這其中影響最大的是把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),往往A/D芯片的技術(shù)參數(shù)和指標(biāo)就決定了整個(gè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的性能指標(biāo)。本文就電能測量ADC的選擇作了綜述。
- 關(guān)鍵字: ADC A/D 數(shù)據(jù)采集 系統(tǒng)
一種采用二次曲率補(bǔ)償?shù)膸痘鶞?zhǔn)源
- 帶隙基準(zhǔn)源廣泛應(yīng)用于各類集成電路之中。在現(xiàn)代集成電路日益發(fā)展的今天,帶隙基準(zhǔn)源扮演了極其重要的角色。在A/D,D/A轉(zhuǎn)換器以及一些模擬和數(shù)字電路中,帶隙基準(zhǔn)源起著至關(guān)重要的作用,它的溫度特性和抗噪聲能力直接決定了整體電路的精度和性能。因此,提高帶隙基準(zhǔn)源的精度是十分重要的。
- 關(guān)鍵字: 帶隙基準(zhǔn)源 集成電路 VBE A/D D/A
為IC設(shè)計(jì)減少天線效應(yīng)
- 如同摩爾定律所述,數(shù)十年來,芯片的密度和速度正呈指數(shù)級成長。眾所周知,這種高速成長的趨勢總有一天會(huì)結(jié)束,只是不知道當(dāng)這一刻來臨時(shí),芯片的密度和性能到底能達(dá)到何種程度。隨著技術(shù)的發(fā)展,芯片密度不斷增加,而閘級氧化層寬度不斷減少,超大規(guī)模集成電路(VLSI)中常見的多種效應(yīng)變得原來越重要且難以控制,天線效應(yīng)便是其中之一。
- 關(guān)鍵字: IC設(shè)計(jì) 天線 天線效應(yīng) 充電損害 MOS
你的電腦將來或是“中國芯”:兆芯ZX-D性能可媲美英特爾i5
- 2016年中國集成電路產(chǎn)業(yè)繼續(xù)呈現(xiàn)出高速增長的勢頭,從中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,2016年中國集成電路產(chǎn)業(yè)銷售額高達(dá)4335.5億元,比上年增長20.1%。同時(shí),另一組數(shù)據(jù)則顯示中國集成電路的進(jìn)口持續(xù)高位。在2016年,集成電路進(jìn)口額達(dá)到2270.7億美元,比上年下降了1.2%,但已連續(xù)四年超過了2000億美元,是價(jià)值最高的進(jìn)口商品。同期集成電路出口613.8億美元,貿(mào)易逆差高達(dá)1657億美元,這種狀況還將持續(xù)幾年。從集成電路進(jìn)口產(chǎn)品來看,微處理器和控制器是占比例最大的。 然而,互聯(lián)網(wǎng)和
- 關(guān)鍵字: 兆芯 ZX-D
兆芯ZX-D處理器即將亮相北京國際互聯(lián)網(wǎng)科技博覽會(huì)
- 4月26日,2017年北京國際互聯(lián)網(wǎng)科技博覽會(huì)暨世界網(wǎng)絡(luò)安全大會(huì)將在北京展覽館正式拉開帷幕。本屆博覽會(huì)得到了中央網(wǎng)信辦、公安部、工信部、國家保密局、國家密碼管理局以及市各委辦局、各區(qū)縣等各級領(lǐng)導(dǎo)的廣泛支持,吸引了超過120家企業(yè)參展。 上海兆芯集成電路有限公司將攜公司自主設(shè)計(jì)研發(fā)的國產(chǎn)x86通用CPU及相關(guān)整機(jī)、服務(wù)器、可信終端及集成商解決方案參展(展位號(hào)12B03),誠邀各界觀眾前來參觀溝通,體驗(yàn)兆芯國產(chǎn)通用CPU的性能表現(xiàn),一睹國產(chǎn)通用CPU生態(tài)建設(shè)成果。 (兆芯自主設(shè)計(jì)研發(fā)的國產(chǎn)通用處理器全
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泰克為MIPI D-PHY v2.0推出業(yè)內(nèi)第一個(gè)完善的接收機(jī)測試解決方案
- 全球領(lǐng)先的測量解決方案提供商–泰克科技公司日前推出業(yè)內(nèi)第一個(gè)接收機(jī)測試解決方案,100%覆蓋MIPI聯(lián)盟最近發(fā)布的D-PHY v.2.0規(guī)范,并全面支持C-PHY v1.1接收機(jī)測試規(guī)范。 對開發(fā)自動(dòng)駕駛系統(tǒng)或車載信息娛樂系統(tǒng)的MIPI設(shè)計(jì)人員,泰克現(xiàn)在提供了簡化的物理層接收機(jī)測試設(shè)置功能及更快的測試執(zhí)行能力,同時(shí)提供了行業(yè)領(lǐng)先的信號(hào)保真度,并靈活支持深入調(diào)試和余量測試。這一解決方案擴(kuò)大了泰克全面的MIPI物理層發(fā)射機(jī)和接收機(jī)及協(xié)議測試方案組合,包括行業(yè)領(lǐng)先的實(shí)時(shí)示波器、任意波形發(fā)生
- 關(guān)鍵字: 泰克 D-PHY
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