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基于NI PXI模塊化儀器和LabVIEW實(shí)現(xiàn)自定義的功能電

  • 背景現(xiàn)代化電子工廠批量生產(chǎn)的PCB電路板,在最終打包出廠前,需要做電路功能測(cè)試(FCT)。在該功能測(cè)試應(yīng)用中,霍尼韋爾綜合科技(中國(guó))有限公司的工程師希望構(gòu)建一套完整的包含音頻、視頻及各種電壓、電流、頻率、開關(guān)
  • 關(guān)鍵字: LabVIEW  PXI  模塊化儀器  功能電路    

基于PXI的無(wú)源干擾設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)

構(gòu)建以PXI為核心的新一代測(cè)試系統(tǒng)

  • 概覽對(duì)于測(cè)試工程師而言,產(chǎn)品功能上的日益匯聚與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的日益多樣這樣不斷顯著的趨勢(shì)為他們創(chuàng)造...
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利用PXI、LXI、TSPTM和GPIB混合系統(tǒng)縮短測(cè)試時(shí)間

  • 在各種測(cè)試架構(gòu)中,LXI系統(tǒng)具有很好的靈活性,GPIB設(shè)備非常普及,PXI系統(tǒng)速度較快,因此,現(xiàn)在的測(cè)試工程師在為其...
  • 關(guān)鍵字: PXI  LXI  TSPTM  GPIB  測(cè)試  

PXI開放式的新技術(shù)于美國(guó)SEMICON West正式發(fā)表

  • PXI系統(tǒng)是為一個(gè)開放性的工業(yè)平臺(tái),目前PXI的系統(tǒng)已廣泛且成功地應(yīng)用于汽車測(cè)試、半導(dǎo)體測(cè)試、功能性測(cè)試、航空設(shè)備測(cè)試以及軍事的應(yīng)用之上。相較于現(xiàn)有的半導(dǎo)體測(cè)試業(yè)界的測(cè)試設(shè)備,PXI測(cè)試系統(tǒng)具備高效能與低成本優(yōu)
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泛華恒興推出PXI與平板電腦高度集成的6槽便攜式機(jī)箱

  • 近日,北京泛華恒興科技有限公司(簡(jiǎn)稱:泛華恒興)發(fā)布了一款6槽棧式結(jié)構(gòu)便攜PXI機(jī)箱——PS PXI-9106,該便攜式機(jī)箱兼容PXI/CompactPCI模塊及具備通用PXI功能。
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中鋼使用NI PXI與LabVIEW搭建燒結(jié)臺(tái)車的漏氣檢測(cè)系統(tǒng)

  • 煉鐵廠主要提供煉鋼時(shí)所需的鐵水和原材料,而煉焦?fàn)t與燒結(jié)工廠分別供應(yīng)高爐煉鐵所需的煉鐵原料,焦碳和燒結(jié)礦。 燒結(jié)工廠主要生產(chǎn)燒結(jié)礦,它是高爐煉鐵的原料。 其主要制作過程是將各種鐵礦石(Iron Ore)、助熔劑(Flux如石灰石)、焦碳屑(Coke Breeze)等原料按規(guī)定比例混合,經(jīng)勻拌滾筒加水?dāng)嚢柙炝:螅椭翢Y(jié)廠進(jìn)行煅燒。
  • 關(guān)鍵字: NI  PXI  

PXI-9820在發(fā)電機(jī)局部放電測(cè)試系統(tǒng)中的開發(fā)應(yīng)用

泛華恒興推出帶隔離功能的數(shù)據(jù)采集卡

  • 近日,北京泛華恒興科技有限公司(簡(jiǎn)稱:泛華恒興)推出了一款帶隔離功能的多功能數(shù)據(jù)采集卡—PS PXI-3354。
  • 關(guān)鍵字: 泛華恒興  PXI-3354  

基于PXI和cRIO的ESP硬件在環(huán)仿真平臺(tái)的構(gòu)建

  • 在ESP研發(fā)過程中,需要大量實(shí)車試驗(yàn)。該試驗(yàn)有兩大困難:一是試驗(yàn)具有相當(dāng)?shù)奈kU(xiǎn)性,二是試驗(yàn)對(duì)場(chǎng)地要求很苛刻。所以,開發(fā)硬件在環(huán)仿真平臺(tái)就成為一種迫切需求。 該仿真平臺(tái)對(duì)加速ESP控制器的算法開發(fā)有重大作用。本
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NI PXI開關(guān)為規(guī)模化測(cè)試延長(zhǎng)射頻測(cè)試系統(tǒng)壽命并提高速度

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布新的NI PXI/PXIe-2543固態(tài)射頻多路復(fù)用器,為工程師提供了一個(gè)長(zhǎng)期高效的解決方案來對(duì)高達(dá)6.6GHz的射頻信號(hào)的路由進(jìn)行優(yōu)化。相較傳統(tǒng)的機(jī)電開關(guān)解決方案,NI PXI/PXIe-2543的固態(tài)構(gòu)架能夠?qū)崿F(xiàn)更加快速的開關(guān)以及多次重復(fù)測(cè)量。
  • 關(guān)鍵字: NI  PXI/PXIe-2543  

KPXI混合測(cè)試系統(tǒng)解決方案

  • 吉時(shí)利的混合測(cè)試解決方案是業(yè)界最先進(jìn)的PXI和測(cè)試設(shè)備混合結(jié)構(gòu),通過分布式編程和并行執(zhí)行能夠極大地加...
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由于開放 成就非凡:NI的成功啟示

  • 時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓(xùn)練中,一家國(guó)際大廠的創(chuàng)辦人親自站上講臺(tái),為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng)業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事:一是一家公司最重要的事是對(duì)人的投資
  • 關(guān)鍵字: Labview  PXI  NI  James Truchard  孫基康  

您所不知的PXI/PXI Express系統(tǒng)散熱設(shè)計(jì)的秘訣

  • 前言
    PXI/PXIe系統(tǒng)是追求穩(wěn)定度與嚴(yán)苛環(huán)境的量測(cè)與自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的最佳平臺(tái)。系統(tǒng)散熱的設(shè)計(jì),對(duì)于系統(tǒng)的穩(wěn)定度扮演重要的角色,包含風(fēng)流與流場(chǎng)的規(guī)劃,該如何避免氣流通道吸入不必要的熱源?如何將散熱孔在安規(guī)的
  • 關(guān)鍵字: PXI  Express  系統(tǒng)  散熱設(shè)計(jì)    

使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試

  • 我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng),我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè),使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào),使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng),使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池,揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
  • 關(guān)鍵字: NI  LCD  PXI  
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