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EEPW首頁 >> 主題列表 >> pxi-3500

基于PXI和cRIO的ESP硬件在環(huán)仿真平臺(tái)的構(gòu)建

  • 在ESP研發(fā)過程中,需要大量實(shí)車試驗(yàn)。該試驗(yàn)有兩大困難:一是試驗(yàn)具有相當(dāng)?shù)奈kU(xiǎn)性,二是試驗(yàn)對(duì)場(chǎng)地要求很苛刻。所以,開發(fā)硬件在環(huán)仿真平臺(tái)就成為一種迫切需求。 該仿真平臺(tái)對(duì)加速ESP控制器的算法開發(fā)有重大作用。本
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NI PXI開關(guān)為規(guī)?;瘻y(cè)試延長(zhǎng)射頻測(cè)試系統(tǒng)壽命并提高速度

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布新的NI PXI/PXIe-2543固態(tài)射頻多路復(fù)用器,為工程師提供了一個(gè)長(zhǎng)期高效的解決方案來對(duì)高達(dá)6.6GHz的射頻信號(hào)的路由進(jìn)行優(yōu)化。相較傳統(tǒng)的機(jī)電開關(guān)解決方案,NI PXI/PXIe-2543的固態(tài)構(gòu)架能夠?qū)崿F(xiàn)更加快速的開關(guān)以及多次重復(fù)測(cè)量。
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KPXI混合測(cè)試系統(tǒng)解決方案

  • 吉時(shí)利的混合測(cè)試解決方案是業(yè)界最先進(jìn)的PXI和測(cè)試設(shè)備混合結(jié)構(gòu),通過分布式編程和并行執(zhí)行能夠極大地加...
  • 關(guān)鍵字: KPXI  混合測(cè)試系統(tǒng)  吉時(shí)利  PXI  

由于開放 成就非凡:NI的成功啟示

  • 時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓(xùn)練中,一家國際大廠的創(chuàng)辦人親自站上講臺(tái),為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng)業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事:一是一家公司最重要的事是對(duì)人的投資
  • 關(guān)鍵字: Labview  PXI  NI  James Truchard  孫基康  

您所不知的PXI/PXI Express系統(tǒng)散熱設(shè)計(jì)的秘訣

  • 前言
    PXI/PXIe系統(tǒng)是追求穩(wěn)定度與嚴(yán)苛環(huán)境的量測(cè)與自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的最佳平臺(tái)。系統(tǒng)散熱的設(shè)計(jì),對(duì)于系統(tǒng)的穩(wěn)定度扮演重要的角色,包含風(fēng)流與流場(chǎng)的規(guī)劃,該如何避免氣流通道吸入不必要的熱源?如何將散熱孔在安規(guī)的
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使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試

  • 我們使用美國國家儀器公司的PXI平臺(tái)開發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng),我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè),使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào),使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng),使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池,揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
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RF WCDMA基準(zhǔn)比較測(cè)試白皮書

  • 通過與傳統(tǒng)的儀器進(jìn)行比較,了解軟件定義的PXI RF儀器在速度上的優(yōu)勢(shì)。如WCDMA測(cè)量結(jié)果所示,基于多核處理器并行執(zhí)行的LabVIEW測(cè)量算法與傳統(tǒng)儀器相比可以實(shí)現(xiàn)明顯的速度提升。
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PXI規(guī)范概覽與最新發(fā)展

  • 縱觀整個(gè)自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域,我們可以看到一些明顯的趨勢(shì):從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的每個(gè)階段,不斷提高的信號(hào)速率要求測(cè)試設(shè)備緊跟高速信號(hào)的測(cè)試要求;單一待測(cè)設(shè)備往往集成了多種不同的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議,這就需要測(cè)試系統(tǒng)能夠足夠靈活地適應(yīng)不斷更新的標(biāo)準(zhǔn);從商業(yè)角度考慮,縮短產(chǎn)品投放市場(chǎng)時(shí)間的壓力也與日俱增,這就需要進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間,然而另一方面往往又需要進(jìn)行更多的測(cè)試項(xiàng)目保證產(chǎn)品質(zhì)量;此外,對(duì)制造業(yè)的自動(dòng)化測(cè)試而言,測(cè)試設(shè)備的體積和功耗已經(jīng)無法再隨著測(cè)試需求線形增長(zhǎng)。
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RF WCDMA基準(zhǔn)比較測(cè)試

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字: 基準(zhǔn)比較測(cè)試  RF  WCDMA  PXI  RF儀器  

構(gòu)建PXI系統(tǒng)的五點(diǎn)考慮

  • PXI平臺(tái)的出現(xiàn)為自動(dòng)化測(cè)試提供了一種新的思路。標(biāo)準(zhǔn)化的商業(yè)技術(shù)讓PXI技術(shù)在過去十五年中以驚人的速度在測(cè)試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的接受,已經(jīng)成為主流的模塊化儀器平臺(tái)。由于PXI是一種模塊化儀器平臺(tái),與傳統(tǒng)儀器相比有其自身的特點(diǎn),因此在選擇PXI平臺(tái)產(chǎn)品與供應(yīng)商時(shí)也有更多考慮。
  • 關(guān)鍵字: NI  PXI  201206  

PXI平臺(tái)在電子制造業(yè)的應(yīng)用

  • 前言隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場(chǎng)需求的改變,電子制造及測(cè)試的方式也隨之變化. 二十一世紀(jì)人們對(duì)產(chǎn)品技術(shù)的要求提升,以及產(chǎn)品生命周期的短縮和價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者不得不思考是否有另一種測(cè)試平臺(tái),可以比傳統(tǒng)PC,GPI
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智能型PXI Switch Module 在自動(dòng)化測(cè)控系統(tǒng)中的應(yīng)

  • 前言使用繼電器模塊(Relay Switch Module)做為信號(hào)切換,廣泛地應(yīng)用于IC測(cè)試、電力監(jiān)測(cè)管理、工業(yè)流程與交通控制領(lǐng)域近年來隨著消費(fèi)性電子產(chǎn)品走向多樣化,生命周期縮短,價(jià)格(Cost)、速度(Speed)、靈活性(Flexibili
  • 關(guān)鍵字: Module  Switch  PXI  智能型    

基于PXI的便攜式測(cè)控系統(tǒng)

  • 引言20世紀(jì)60年代末期,Hewlett-Packard設(shè)計(jì)出了所謂的HP-IB(Hewlett-Packard Interface Bus)作為獨(dú)立儀器與計(jì)算機(jī)之間的溝通通道。由于其高速的數(shù)據(jù)傳輸率(對(duì)當(dāng)時(shí)而言),很快便廣為大家所接受,因此后來IEEE便將此
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PXI和LXI實(shí)現(xiàn)通信測(cè)試自動(dòng)化的方法

  • 要點(diǎn)  - 儀器與控制器通信以及彼此間通信的能力可追溯到上世紀(jì)60年代末,當(dāng)時(shí)HP公司發(fā)明了HP接口總線(HP-IB),被制定為IEEE-488標(biāo)準(zhǔn),并起了一個(gè)名字——通用接口總線(GPIB)?! ? PXI標(biāo)準(zhǔn)和LXI標(biāo)準(zhǔn)正在
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NI成功主辦第九屆 “中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”

  • 由美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)主辦的第九屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)于2012年5月29日在上海國際會(huì)議中心成功召開,超過500名工程師和技術(shù)人員到場(chǎng)參加。共有12家國內(nèi)外知名PXI供應(yīng)商和系統(tǒng)集成商, 10家行業(yè)內(nèi)的知名媒體參加,是歷屆之最。
  • 關(guān)鍵字: NI  PXI  
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