r-d 文章進(jìn)入r-d技術(shù)社區(qū)

利用單片機(jī)構(gòu)成高精度PWM式12位D/A

[一].前言在用單片機(jī)制作的變送器類和控制器類的儀表中，需要輸出1—5V或4—20mA的直流信號(hào)的時(shí)候，通常采用專用的D/A芯片，一般是每路一片。當(dāng)輸出信號(hào)的精度較高時(shí)，D/A芯片的位數(shù)也將隨之增加。在工業(yè)儀
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基于單片機(jī)控制的光譜數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

一種用單片機(jī)控制的光譜數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)摘要：介紹利用單片機(jī)和A/D器件MAX120等構(gòu)成的光譜信號(hào)采集系統(tǒng),由單片機(jī)控制A/D產(chǎn)生不同的采樣頻率,用于光電倍增管和CCD輸出的光譜信號(hào)的采集。　　關(guān)鍵詞：?jiǎn)纹瑱C(jī) A/D 信
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　　概述
　　在光譜測(cè)量中常用光電倍增管（PMT）和電荷耦合器件（CCD）作為光電轉(zhuǎn)換器。在慢變化、高精度光譜測(cè)量中使用PMT 對(duì)于閃光燈、熒光和磷光等強(qiáng)度隨時(shí)間變化時(shí)的光譜信號(hào)則采用CCD。PMT和CCD輸出的信號(hào)形式是不同的：光電倍增管輸出的是連續(xù)的模擬信號(hào) CCD輸出的是視頻脈沖信號(hào)。由于輸出信號(hào)的不同相應(yīng)的信號(hào)采集電路也不盡相同。本文所述的系統(tǒng)通過設(shè)定控制開關(guān)的不同狀態(tài) 由單片機(jī)檢測(cè)、判斷和執(zhí)行相應(yīng)的操作完成對(duì)不同形式輸入

華為Ascend D Quad將于 8 月在中國(guó)上市

　　 ? 　　你在等華為的新一代 4 核旗艦手機(jī) Ascend D Quad 嗎?如果是的話那就請(qǐng)你再多一點(diǎn)耐心吧。繼上次宣布 Ascend D Quad 由于「芯片技術(shù)問題」將延遲至 8 月量產(chǎn)后，日前華為終于向 The Inquirer 確定，這款手機(jī)將于 8 月在中國(guó)上市(如果你身在西歐的話那就要等到今年 10 月了)。我們最早見到這款手機(jī)還是在 2 月的 MWC 2012 上，如今 4 個(gè)多月過去了它還依然未在消費(fèi)者面前露出真容，實(shí)話說在我們看來(lái)真的有些錯(cuò)過時(shí)機(jī)呢。如今憑藉其已經(jīng)
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全球最貴游戲鼠標(biāo)！泡泡獨(dú)家拆解曝光

　　泡泡網(wǎng)鼠標(biāo)鍵盤頻道1月14日在收到CyBorg R.A.T 9無(wú)線游戲鼠標(biāo)的第二天，筆者做了關(guān)于這款鼠標(biāo)的拆解，今天下放出幾張圖片供大家欣賞一下。首先可以確定的是，R.A.T 9鼠標(biāo)延續(xù)了前幾款鼠標(biāo)的造型，機(jī)身部分可以調(diào)節(jié)長(zhǎng)度，并且擁有砝碼配重。另外就是無(wú)名指手托部分，沿用了R.A.T 7可更換造型設(shè)計(jì)，性能方面具體尚未清楚，敬請(qǐng)留意后面的評(píng)測(cè)內(nèi)容。　　關(guān)于Cyborg R.A.T 9無(wú)線游戲鼠標(biāo)的評(píng)測(cè)內(nèi)容，會(huì)在近期放出，屆時(shí)會(huì)有提問和回答的環(huán)節(jié)，幸運(yùn)者會(huì)免費(fèi)獲得Cyborg R.A.T 7游戲
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D/A轉(zhuǎn)換器TLC5618的功能應(yīng)用實(shí)例

D/A轉(zhuǎn)換器TLC5618的功能應(yīng)用實(shí)例,　　下面具體介紹采用一片可編程雙通道D/A轉(zhuǎn)換器TLC5618的一個(gè)通道實(shí)現(xiàn)D/A轉(zhuǎn)換的同時(shí)，用它的另一個(gè)通道通過軟件編程以逐次比較方式來(lái)實(shí)現(xiàn)A/D轉(zhuǎn)換功能的實(shí)際應(yīng)用方法。其硬件設(shè)計(jì)如圖1所示　　TLC5618是帶有緩沖基準(zhǔn)
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R&S在頻譜儀FSVR和FSV電磁兼容診斷功能

標(biāo)簽：RS FSV-K54 EMC羅德與施瓦茨在實(shí)時(shí)頻譜儀RS FSVR和信號(hào)分析儀RS FSV平臺(tái)上增加了新的EMI測(cè)試應(yīng)用選件RS FSV-K54。此選件可讓頻譜儀的用戶用來(lái)進(jìn)行EMC診斷測(cè)試和預(yù)兼容測(cè)試。通信和汽車電子行業(yè)、維修及測(cè)
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如何由單片機(jī)系統(tǒng)升級(jí)到DSP系統(tǒng)

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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薄膜電路技術(shù)在T/R組件中的應(yīng)用

1.引言采用薄膜技術(shù)來(lái)制造薄膜電路是薄膜領(lǐng)域中一個(gè)重要分支。薄膜電路主要特點(diǎn)：制造精度比較高(薄膜線寬和線間距較小)，可實(shí)現(xiàn)小孔金屬化，可集成電阻、電容、電感、空氣橋等無(wú)源元件，并且根據(jù)需要，薄膜電路可以
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采用MSOP和SO-8封裝的16位A/D轉(zhuǎn)換器LTC1864

LTC?1864/LTC1865 是采用 MSOP 和 SO-8 封裝的 16 位 A/D 轉(zhuǎn)換器，采用單 5V工作電源。在 250ksps 采樣速率 ...
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采用TSOT-23 封裝的12 位、采樣A/D 轉(zhuǎn)換器LTC

LTC?2365/LTC2366 是 1Msps/3Msps、12 位、采樣 A/D 轉(zhuǎn)換器，分別僅從單 3V電源吸收 2mA 和 2.6mA 電流。這 ...
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用于軟件無(wú)線電12 b高精度 A/D轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)

　本文設(shè)計(jì)的用于軟件無(wú)線電臺(tái)12 b A/D轉(zhuǎn)換器中的高精度，高速運(yùn)算放大器，采用了增益提高電路，在不影響頻率響應(yīng)的同時(shí)，得到普通運(yùn)放所達(dá)不到的高增益?！　? 高精度，高速度模數(shù)轉(zhuǎn)換器對(duì)運(yùn)算放大器指標(biāo)的要求　　
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基于VHDL語(yǔ)言對(duì)高速A/D器件TLC5510控制的實(shí)現(xiàn)

基于VHDL語(yǔ)言對(duì)高速A/D器件TLC5510控制的實(shí)現(xiàn),--TLC5510 VHDL控制程序　　--文件名：TLC5510.vhd　　--功能：基于VHDL語(yǔ)言，實(shí)現(xiàn)對(duì)高速A/D器件TLC5510控制　　--最后修改日期：2004.3.20　　library ieee;　　use ieee.std_logic_1164.all;　　entity tlc5510 is
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世界O-S-D半導(dǎo)體市場(chǎng)穩(wěn)定向好

O-S-D(光電子-傳感器/調(diào)節(jié)器-分立器件)由于MEMS基傳感器、光纖-激光發(fā)射器、CMOS圖像傳感器、發(fā)光二極管、傳感器/調(diào)節(jié)器以及分立器件的殷切需求，2011年增長(zhǎng)了8.5%，達(dá)到574億美元的市場(chǎng)新記錄，而同年IC市場(chǎng)僅微增0.4%。市調(diào)公司IC Insights報(bào)告，2011年O-S-D器件占世界半導(dǎo)體市場(chǎng)的17.9%，2012年O-S-D市場(chǎng)將續(xù)增7%，達(dá)616億美元，在半導(dǎo)體市場(chǎng)中的份額將進(jìn)一步提高到18.2%。
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R&S簡(jiǎn)化LTE輻射雜散發(fā)射測(cè)量

慕尼黑 - 為了確保不干擾其他的業(yè)務(wù)，無(wú)線設(shè)備制造商必須測(cè)試無(wú)線設(shè)備的輻射雜散發(fā)射（RSE）。傳統(tǒng)的測(cè)試RSE的方法都是要過濾掉高功率的無(wú)線通信信號(hào)，然而LTE標(biāo)準(zhǔn)定義了258個(gè)頻帶組合，因此，使用傳統(tǒng)的方法測(cè)試RSE
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迎接連接時(shí)代復(fù)雜的測(cè)試新挑戰(zhàn)

2012年第八屆中國(guó)國(guó)際國(guó)防電子展期間，由《電子產(chǎn)品世界》雜志社主辦的第五屆國(guó)際測(cè)試與儀器應(yīng)用論壇(ITMAF 2012)于5月10日在中國(guó)展覽館報(bào)告廳召開，本屆論壇的主題是面向連接時(shí)代的高性能測(cè)試技術(shù)應(yīng)用。來(lái)自測(cè)試行業(yè)的專家和廠商共聚一堂，共同探討測(cè)試行業(yè)的當(dāng)今形勢(shì)和未來(lái)發(fā)展之路。
關(guān)鍵字： Agilent R&S 測(cè)試