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tessent in-system test
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科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award
- 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”(譯:最佳測(cè)試獎(jiǎng))獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng),它采用先進(jìn)科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
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tessent in-system test介紹
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