首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 散射

三維矢量散射積分方程中奇異性的分析及求解方法介紹

  • 本文研究了電場(chǎng)積分方程(EFIE)中被積函數(shù)奇異性的處理方法，特別是三維矢量散射分析中出現(xiàn)的高階奇異性，給出了兩種解決積分方程奇異性的數(shù)值方法.一種方法是計(jì)算O(1/R)階奇異積分的奇異轉(zhuǎn)移法［1］.另一種方法是為解
  • 關(guān)鍵字： 分析  求解  方法  介紹  異性  方程  矢量  散射  積分  三維  

無(wú)芯射頻標(biāo)簽散射場(chǎng)分析和極點(diǎn)提取研究

  • 摘要：目標(biāo)雷達(dá)散射截面(RCS)，在復(fù)平面可以表示為復(fù)頻域的函數(shù)。根據(jù)奇點(diǎn)(SEM)展開(留數(shù))方法，計(jì)算對(duì)目標(biāo)物體的散射奇點(diǎn)(留數(shù))，進(jìn)行射頻識(shí)別(RFID)，是射頻識(shí)別的新思路。通過(guò)FEKO軟件，對(duì)蝶形無(wú)芯標(biāo)簽結(jié)構(gòu)進(jìn)行仿
  • 關(guān)鍵字： 提取  研究  極點(diǎn)  分析  標(biāo)簽  散射  射頻  

基于LabVIEW的微米顆粒散射光信號(hào)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要：微米顆粒散射光信號(hào)的獲取是利用夫朗和費(fèi)衍射原理分析微米顆粒粒徑的基礎(chǔ)。介紹了由計(jì)算機(jī)和高速數(shù)據(jù)采集卡組成的高速采集裝置，討論了在基于虛擬儀器軟件平臺(tái)的程序設(shè)計(jì)中遇到的有關(guān)散射光信號(hào)的高速采集、存
  • 關(guān)鍵字： LabVIEW  微米  散射  信號(hào)采集    

布里淵散射型分布式光纖溫度傳感器頻域分析法

  • 布里淵散射型分布式光纖溫度傳感器頻域分析法
    布里淵散射光也是光在光纖中傳輸時(shí)由非彈性光子與熱運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的聲子發(fā)生的一種非彈性碰撞。散射光的頻移量與溫度的關(guān)系式為，其中T0為參考溫度，Vb(T0)為溫度為T0時(shí)的頻
  • 關(guān)鍵字： 傳感器  分析法  溫度  光纖  散射  分布式  布里  

三維矢量散射積分方程中奇異性的分析

  • 本文研究了電場(chǎng)積分方程(EFIE)中被積函數(shù)奇異性的處理方法，特別是三維矢量散射分析中出現(xiàn)的高階奇異性，給出了兩種解決積分方程奇異性的數(shù)值方法.一種方法是計(jì)算O(1/R)階奇異積分的奇異轉(zhuǎn)移法［1］.另一種方法是為解
  • 關(guān)鍵字： 異性  分析  方程  積分  矢量  散射  三維  

一種利用超聲散射測(cè)量材料內(nèi)部微裂紋分形參數(shù)的新

  • 1 引言 材料中實(shí)際裂紋的形狀參數(shù)和空間分布信息在缺陷無(wú)損評(píng)估中變得越來(lái)起重要。它們表明了裂紋的折皺程度，擴(kuò)展路徑，在一定程度上還反映了裂紋的成因。根據(jù)裂紋的這些信息，可以在線評(píng)估材料的工作狀態(tài)，
  • 關(guān)鍵字： 散射  測(cè)量材料  參數(shù)  分形    

散射方法測(cè)量嵌入式SiGe間隔結(jié)構(gòu)

  • 散射測(cè)量方法日益應(yīng)用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)的測(cè)量，并逐漸在間隔層的量測(cè)中占據(jù)主導(dǎo)地位。數(shù)量級(jí)在10nm或更薄的間隔層測(cè)量尤其困難。除間隔層厚度外，由間隔層過(guò)刻蝕導(dǎo)致的基板凹陷深度也對(duì)器件有著明顯的影響。嵌入式
  • 關(guān)鍵字： SiGe  散射  方法  測(cè)量    

應(yīng)用散射技術(shù)測(cè)試復(fù)雜Spacer結(jié)構(gòu)

  • 長(zhǎng)久以來(lái)，散射技術(shù)已充分展示其精準(zhǔn)測(cè)量簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)的能力，例如對(duì)淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)（STI）和柵極模塊的量測(cè)。但是，IC制造商現(xiàn)在需要監(jiān)測(cè)和控制越來(lái)越復(fù)雜的結(jié)構(gòu)。Spacer是目前散射技術(shù)正在處理的復(fù)雜結(jié)構(gòu)之一。Spacer會(huì)
  • 關(guān)鍵字： Spacer  散射  測(cè)試    

針對(duì)手機(jī)射頻電路設(shè)計(jì)的差分散射參數(shù)測(cè)試方法(一)

超越S參數(shù)測(cè)試-安捷倫科技最先進(jìn)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀PNA-X

  • 無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們?cè)跍y(cè)試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰(zhàn)。在研發(fā)過(guò)程中，更快并以較少的重復(fù)...
  • 關(guān)鍵字： 散射  線性  變頻  無(wú)線  
共10條 1/1 1
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473