博客專欄

EEPW首頁(yè) > 博客 > 分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)

分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)

發(fā)布人:18092643147 時(shí)間:2021-11-26 來(lái)源:工程師 發(fā)布文章

DCT1401

分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開(kāi)啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on))。

測(cè)試種類覆蓋 7 大類別26分類,包括“二極管類”“三極管類BJT、MOSFET、IGBT”“保護(hù)類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測(cè)類”等品類的繁多的電子元器件。

高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A

控制極/柵極電壓40V,柵極電流10mA

分辨率最高至1mV / 1nA,精度最高可至0.5%

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)適用于分立器件測(cè)試還可測(cè)試“結(jié)電容”,支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機(jī)連接”

*圖片2.png

第一部分:規(guī)格&環(huán)境

1.1、產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào):DCT1401

產(chǎn)品名稱:分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)

1.2、物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深660*430*210(mm)

主機(jī)重量:<35kg

主機(jī)顏色:白色系

1.3、電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過(guò) 4000m

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作);

相對(duì)濕度: 20%RH75%RH (無(wú)凝露,濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下);

大氣壓力:86Kpa106Kpa

防護(hù)條件:無(wú)較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時(shí)間:連續(xù);

第二部分:應(yīng)用場(chǎng)景和產(chǎn)品特點(diǎn)一、應(yīng)用場(chǎng)景

1、測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試主要功能為分立器件測(cè)試

2、失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案)

3選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

4來(lái)料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

5、量產(chǎn)測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動(dòng)化測(cè)試)

6替代進(jìn)口DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品)

*應(yīng)用場(chǎng)景.jpg

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

1、程控高壓源10~1400V,提供2000V選配;

2、程控高流源1uA~100A,提供40A,200A選配;

3、驅(qū)動(dòng)電壓10mV~40V

4、控制極電流10uA~10mA

5、16ADC100K/S采樣速率;

6、自動(dòng)識(shí)別器件極性 NPN/PNP

7、分立器件測(cè)試,四線開(kāi)爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確

8、通過(guò) RS232 接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表,對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn)

9、不同的封裝形式提供對(duì)應(yīng)的夾具和適配器(如TO220、SOP-8、DIPSOT-23等等)

10、分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)能測(cè)很多電子元器件如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等);

11、分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)分立器件測(cè)試(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開(kāi)啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on)

12、結(jié)電容參數(shù)也可以測(cè)試,諸如Cka,Ciss,Crss,Coss;

13、脈沖電流自動(dòng)加熱功能,方便高溫測(cè)試,無(wú)需外掛升溫裝置;

14Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin,連接分選機(jī)最高效率1h/9000個(gè);

15、分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)在各大電子廠的IQC、實(shí)驗(yàn)室有著廣泛的應(yīng)用;

第三部分:產(chǎn)品介紹3.1、產(chǎn)品介紹

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng) 是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)的多年經(jīng)驗(yàn),以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,完全自主開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

 

分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)脈沖信號(hào)源輸出方面,高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A)柵極電壓40V,柵極電流10mA,分辨率最高至1mV / 30pA,精度最高可至0.5%。程控軟件基于Lab VIEW平臺(tái)編寫,填充式菜單界面。采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測(cè)試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見(jiàn)器件。無(wú)論電壓電流源還是功能配置都有著極強(qiáng)的擴(kuò)展性。

 

產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過(guò)Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠極好的應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測(cè)試”等不同場(chǎng)景。

 

分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)產(chǎn)品的可靠性和測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測(cè)試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測(cè)。操作更簡(jiǎn)單效率更高。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本方便快捷的完成分立器件測(cè)試。

3.2、人機(jī)界面(DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng))

*


 

第四部分:功能配置4.1、配置選項(xiàng)

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)的功能配置如下

*功能配置.jpg

4.2、適配器選型

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)的適配器有如下

*適配器選項(xiàng)01.jpg

 

4.3、測(cè)試種類及參數(shù)

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)的測(cè)試種類和參數(shù)如下

(1)二極管類:二極管  Diode

KelvinVrrm,Irrm,Vf,△Vf,△VrrmCka,Tr(選配);

(2)二極管類:穩(wěn)壓二極管  ZDZener Diode

Kelvin,Vzlr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;

(3)二極管類:穩(wěn)壓二極管  ZDZener Diode

KelvinVz、lr、Vf、△Vf、△VzRozlzmCka

(4)二極管類:三端肖特基二極管SBDSchottkyBarrierDiode

Kelvin 、Type_ident Pin_test 、VrrmIrrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(選配);

(5)二極管類:瞬態(tài)二極管  TVS

Kelvin Vrrm 、IrrmVf、△Vf、△Vrrm 、Cka

(6)二極管類:整流橋堆

Kelvin 、VrrmIrrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm Cka;

(7)二極管類:三相整流橋堆

Kelvin Vrrm 、IrrmIr_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;

(8)三極管類:三極管

Kelvin Type_ident、Pin_chk V(br)cbo 、V(br)ceo V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcmVsd 、Ccbo Cces、HeaterTr (選配)、Ts(選配)、Value_process;

(9) 三極管類:雙向可控硅

KelvinType_ident、Qs_chk、Pin_testIgt、Vgt、VtmVdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm

(10)三極管類:?jiǎn)蜗蚩煽毓?/span>

Kelvin、 Type_identQs_chk、 Pin testlgtVgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△VdrmVrrm、Vtm

(11)三極管類:MOSFET

Kelvin 、Type_identPin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、CrssBvgs 、ld_lim Heater、Value_proces、△Rds(on) ;

(12)三極管類:雙MOSFET

Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chkType_ident、 Vgs1(th)VGs2(th)、 VBR)Dss1VBR)Dss2、 Rds1(on)Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2Ciss、CossCrss;

(13)三極管類:JFET

KelvinVGS(off )、V(BR)DssRds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、CrssCoss;

(14)三極管類:IGBT

KelvinVGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss

(15)三極管類:三端開(kāi)關(guān)功率驅(qū)動(dòng)器

Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)Rson、Ibb(off)Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt

(16)三極管類:七端半橋驅(qū)動(dòng)器

Kelvin、lvs(off)lvs(on)、Rson_h、Rson_llin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;

(17)三極管類:高邊功率開(kāi)關(guān)

Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;

(18)保護(hù)類:壓敏電阻

Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;

(19)保護(hù)類:?jiǎn)谓M電壓保護(hù)器

Kelvin 、VrrmVdrm、IrrmIdrmCka、△Vr

(20)保護(hù)類:雙組電壓保護(hù)器

Kelvin、VrrmVdrm、IrrmIdrm、Cka、△Vr;

(21)穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器

Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk Vout 、Reg_LineReg_Load、IBIB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;

(22)穩(wěn)壓集成類:基準(zhǔn)ICTL431

Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loffZka、Vka;

(23)穩(wěn)壓集成類:四端穩(wěn)壓

KelvinType_ident、Treg_ix_chk、VoutReg_Line、Reg_LoadIB、IB_IRoz、△lB、VDIsc、Max_lo、RoExt_Sw、Ic_fx_chk;

(24)穩(wěn)壓集成類:開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓集成器

選配;

(25)繼電器類:4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態(tài)繼電器

Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、IrVl、Il、Ift、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);

(26)光耦類:4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦

Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、BvceoBveco、IceoCtr、Vce(sat)Tr、Tf;

(27)傳感監(jiān)測(cè)類:

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

電壓監(jiān)控器(選配);

電壓復(fù)位IC(選配);

分立器件測(cè)試

第五部分:性能指標(biāo)

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)的性能指標(biāo)如下

5.1、電流/電壓源VIS自帶VI測(cè)量單元

1加壓(FV)

量程±40V分辨率19.5mV精度±1% 設(shè)定值±10mV

量程±20V分辨率10mV精度±1% 設(shè)定值±5mV

量程±10V分辨率5mV精度±1% 設(shè)定值±3mV

量程±5V分辨率2mV精度±1% 設(shè)定值±2mV

量程±2V分辨率1mV精度±1% 設(shè)定值±2mV

2加流(FI)

量程±40A 分辨率19.5mA精度±2% 設(shè)定值±20mA

量程±4A 分辨率1.95mA精度±1% 設(shè)定值±2mA

量程±400mA分辨率1195uA精度±1% 設(shè)定值±200uA

量程±40mA分辨率119.5uA精度±1% 設(shè)定值±20uA

量程±4mA分辨率195nA精度±1% 設(shè)定值±200nA

量程±400uA分辨率19.5nA精度±1% 設(shè)定值±20nA

量程±40uA分辨率1.95nA精度±1% 設(shè)定值±2nA

說(shuō)明:電流大于1.5A自動(dòng)轉(zhuǎn)為脈沖方式輸出,脈寬范圍:300us-1000us可調(diào)

3電流測(cè)量(MI)

量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數(shù)值±20mA

量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數(shù)值±2mA

量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數(shù)值±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shù)值±20uA

量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數(shù)值±2uA

量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數(shù)值±200nA

量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數(shù)值±20nA

4電壓測(cè)量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數(shù)值±20mV

量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±200uV

量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±20uV

5.2、數(shù)據(jù)采集部分VM

16ADC,100K/S采樣速率

1電壓測(cè)量(MV)

量程±2000V分辨率1.22mV精度±1%讀數(shù)值±20mV

量程±100V分辨率122uV精度±0.5%讀數(shù)值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV精度±0.5%讀數(shù)值±200uV

量程±1V分辨率1.22uV精度±0.5%讀數(shù)值±20uV

2漏電流測(cè)量(MI)

量程±100mA分辨率30uA精度±1%讀數(shù)值±30uA

量程±10mA分辨率3uA精度±1%讀數(shù)值±3uA

量程±1mA分辨率300nA精度±1%讀數(shù)值±300nA

量程±100uA分辨率30nA精度±1%讀數(shù)值±30nA

量程±10uA分辨率3nA精度±1%讀數(shù)值±10nA

量程±1uA 分辨率300pA精度±1%讀數(shù)值±10nA

量程±100nA分辨率30pA精度±1%讀數(shù)值±5nA

3電容容量測(cè)量(MC)

量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數(shù)值±50PF

量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數(shù)值±100PF

5.3高壓源HVS(基本)12DAC

1加壓(FV)

量程1400V/5mA分辨率30.5mV精度±0.5%設(shè)定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設(shè)定值±500mV

量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.5%設(shè)定值±500mV

2加流(FI)

量程10mA分辨率4.88uA 精度±2%設(shè)定值±10uA

量程2mA分辨率488nA精度±1%設(shè)定值±2uA

量程200uA分辨率48.8nA精度±1%設(shè)定值±200nA

量程20uA分辨率4.88nA精度±1%設(shè)定值±20nA

量程2uA分辨率488pA精度±2%設(shè)定值±10nA

DCT1401分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)能測(cè)很多電子元器件如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測(cè)廠、電子廠......

-----------------------------------------------   

趙女士  市場(chǎng)部 · 經(jīng)理 / 18092643147

西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司   www.xatgck.com

西安市高新區(qū)錦業(yè)路12號(hào)(非收件地址)  710076

+86-029-87309001   xatgck_mailbox@163.com

-----------------------------------------------

導(dǎo) 體 器 件 電 學(xué) 檢 測(cè) !  研發(fā)、生產(chǎn)、銷售晶體管圖示儀,半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數(shù)及可靠性和老化測(cè)試。靜態(tài)單脈沖(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))動(dòng)態(tài)雙脈沖(包括 Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Cxss , RBSOA 等)環(huán)境老化測(cè)試(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)熱特性測(cè)試(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各類全系列測(cè)試設(shè)備

 

 


*博客內(nèi)容為網(wǎng)友個(gè)人發(fā)布,僅代表博主個(gè)人觀點(diǎn),如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系工作人員刪除。

分頻器相關(guān)文章:分頻器原理



技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉