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碳化硅產(chǎn)業(yè)鏈條核心:外延技術(shù)

發(fā)布人:旺材芯片 時(shí)間:2021-12-25 來源:工程師 發(fā)布文章
01.碳化硅外延
外延工藝是整個(gè)產(chǎn)業(yè)中的一種非常關(guān)鍵的工藝,由于現(xiàn)在所有的器件基本上都是在外延上實(shí)現(xiàn),所以外延的質(zhì)量對(duì)器件的性能是影響是非常大的,但是外延的質(zhì)量它又受到晶體和襯底。加工的影響,處在一個(gè)產(chǎn)業(yè)的中間環(huán)節(jié),對(duì)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展起到非常關(guān)鍵的作用。


碳化硅功率器件與傳統(tǒng)硅功率器件制作工藝不同,不能直接制作在碳化硅單晶材料上,必須在導(dǎo)通型單晶襯底上額外生長高質(zhì)量的外延材料,并在外延層上制造各類器件。
碳化硅一般采用PVT方法,溫度高達(dá)2000多度,且加工周期比較長,產(chǎn)出比較低,因而碳化硅襯底的成本是非常高的 碳化硅外延過程和硅基本上差不多,在溫度設(shè)計(jì)以及設(shè)備的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不太一樣。 在器件制備方面,由于材料的特殊性,器件過程的加工和硅不同的是,采用了高溫的工藝,包括高溫離子注入、高溫氧化以及高溫退火工藝。 02.SiC外延片是SiC產(chǎn)業(yè)鏈條核心的中間環(huán)節(jié)
目前碳化硅和氮化鎵這兩種芯片,如果想最大程度利用其材料本身的特性,較為理想的方案便是在碳化硅單晶襯底上生長外延層。 碳化硅外延片,是指在碳化硅襯底上生長了一層有一定要求的、與襯底晶相同的單晶薄膜(外延層)的碳化硅片。實(shí)際應(yīng)用中,寬禁帶半導(dǎo)體器件幾乎都做在外延層上,碳化硅晶片本身只作為襯底,包括GaN外延層的襯底。 我國SiC外延材料研發(fā)工作開發(fā)于“九五計(jì)劃”,材料生長技術(shù)及器件研究均取得較大進(jìn)展。主要研究單位有中科院半導(dǎo)體研究所、中電集團(tuán)13所和55所、西安電子科技大學(xué)等,產(chǎn)業(yè)化公司主要是東莞天域和廈門瀚天天成。目前我國已研制成功6英寸SiC外延晶片,且基本實(shí)現(xiàn)商業(yè)化。可以滿足3.3kV及以下電壓等級(jí)SiC電力電子器件的研制。不過,還不能滿足研制10kV及以上電壓等級(jí)器件和研制雙極型器件的需求。
碳化硅材料的特性從三個(gè)維度展開: 1.材料的性能,即物理性能:禁帶寬度大、飽和電子飄移速度高、存在高速二維電子氣、擊穿場(chǎng)強(qiáng)高。這些材料特性將會(huì)影響到后面器件的性能。 2. 器件性能:耐高溫、開關(guān)速度快、導(dǎo)通電阻低、耐高壓。優(yōu)于普通硅材料的特性。反映在電子電氣系統(tǒng)和器件產(chǎn)品中。 3. 系統(tǒng)性能:體積小、重量輕、高能效、驅(qū)動(dòng)力強(qiáng)。 碳化硅的耐高壓能力是硅的10 倍,耐高溫能力是硅的2 倍,高頻能力是硅的2 倍;相同電氣參數(shù)產(chǎn)品,采用碳化硅材料可縮小體積50%,降低能量損耗80%。 這也是為什么半導(dǎo)體巨頭在碳化硅的研發(fā)上不斷加碼的原因:希望把器件體積做得越來越小、能量密度越來越大。 硅材料隨著電壓的升高,高頻性能和能量密度不斷在下降,和碳化硅、氮化鎵相比優(yōu)勢(shì)越來越小。 碳化硅主要運(yùn)用在高壓環(huán)境,氮化鎵主要集中在中低壓的領(lǐng)域。造成兩者重點(diǎn)發(fā)展的方向有重疊、但各有各的路線。通常以650V 作為一個(gè)界限:650V以上通常是碳化硅材料的應(yīng)用,650V 以下比如一些消費(fèi)類電子上氮化鎵的優(yōu)勢(shì)更加明顯。 SiC外延片關(guān)鍵參數(shù) 碳化硅外延材料的最基本的參數(shù),也是最關(guān)鍵的參數(shù),就右下角黃色的這一塊,它的厚度和摻雜濃度均勻性。 我們所講外延的參數(shù)其實(shí)主要取決于器件的設(shè)計(jì),比如說根據(jù)器件的電壓檔級(jí)的不同,外延的參數(shù)也不同。 一般低壓在600伏,我們需要的外延的厚度可能就是6個(gè)μm左右,中壓1200~1700,我們需要的厚度就是10~15個(gè)μm。高壓的話1萬伏以上,可能就需要100個(gè)μm以上。所以隨著電壓能力的增加,外延厚度隨之增加,高質(zhì)量外延片的制備也就非常難,尤其在高壓領(lǐng)域,尤其重要的就是缺陷的控制,其實(shí)也是非常大的一個(gè)挑戰(zhàn)。 03.SiC外延片制備技術(shù)
 碳化硅外延兩大主要技術(shù)發(fā)展,應(yīng)用在設(shè)備上。 
  • 1980年提出的臺(tái)階流生長模型

此對(duì)外延的發(fā)展、對(duì)外延的質(zhì)量都起到了非常重要的作用。它的出現(xiàn)首先是生長溫度,可以在相對(duì)低的溫度下實(shí)現(xiàn)生長,同時(shí)對(duì)于我們功率器件感興趣的4H晶型來說,可以實(shí)現(xiàn)非常穩(wěn)定的控制。 
  • 引入TCS,實(shí)現(xiàn)生長速率的提升

引入TCS可以實(shí)現(xiàn)生長速率達(dá)到傳統(tǒng)的生長速率10倍以上,它的引入不光是生產(chǎn)速率得到提升,同時(shí)也是質(zhì)量得到大大的控制,尤其是對(duì)于硅滴的控制,所以說對(duì)于厚膜外延生長來說是非常有利的。這個(gè)技術(shù)率先由LPE在14年實(shí)現(xiàn)商業(yè)化,在17年左右Aixtron對(duì)設(shè)備進(jìn)行了升級(jí)改造,將這個(gè)技術(shù)移植到了商業(yè)的設(shè)備中。 碳化硅外延中的缺陷其實(shí)有很多,因?yàn)榫w的不同所以它的缺陷和其它一些晶體的也不太一樣。他的缺陷主要包括微管、三角形缺陷、表面的胡蘿卜缺陷,還有一些特有的如臺(tái)階聚集。 基本上很多缺陷都是從襯底中直接復(fù)制過來的,所以說襯底的質(zhì)量、加工的水平對(duì)于外延的生長來說,尤其是缺陷的控制是非常重要的。 碳化硅外延缺陷一般分為致命性和非致命性: 致命性缺陷像三角形缺陷,滴落物,對(duì)所有的器件類型都有影響,包括二極管,MOSFET,雙極性器件,影響最大的就是擊穿電壓,它可以使擊穿電壓減少20%,甚至跌到百分之90。 非致命性的缺陷比如說一些TSD和TED,對(duì)這個(gè)二極管可能就沒有影響,對(duì)MOS、雙極器件可能就有壽命的影響,或者有一些漏電的影響,最終會(huì)使器件的加工合格率受到影響。 控制碳化硅外延缺陷,方法一是謹(jǐn)慎選擇碳化硅襯底材料;二是設(shè)備選擇及國產(chǎn)化;三是工藝技術(shù)。 04.碳化硅外延技術(shù)進(jìn)展情況
在低、中壓領(lǐng)域,目前外延片核心參數(shù)厚度、摻雜濃度可以做到相對(duì)較優(yōu)的水平。但在高壓領(lǐng)域,目前外延片需要攻克的難關(guān)還很多,主要參數(shù)指標(biāo)包括厚度、摻雜濃度的均勻性、三角缺陷等。 在中、低壓應(yīng)用領(lǐng)域,碳化硅外延的技術(shù)相對(duì)是比較成熟的。 基本上可以滿足低中壓的SBD、JBS、MOS等器件的需求。如上是一個(gè)1200伏器件應(yīng)用的10μm的外延片,它的厚度、摻雜濃度了都達(dá)到了一個(gè)非常優(yōu)的水平,而且表面缺陷也是非常好的,可以達(dá)到0.5平方以下。 在高壓領(lǐng)域外延的技術(shù)發(fā)展相對(duì)比較滯后,如上是2萬伏的器件上的200μm的一個(gè)碳化硅外延材料,它的均勻性、厚度和濃度相對(duì)于上述介紹的低壓差很多,尤其是摻雜濃度的均勻性。 同時(shí),高壓器件需要的厚膜方面,目前的缺陷還是比較多的,尤其是三角形缺陷,缺陷多主要影響大電流的器件制備。大電流需要大的芯片面積。同時(shí)它的少子壽命目前也比較低。 在高壓方面的話,器件的類型趨向于使用于雙極器件,對(duì)少子壽命要求比較高,從右面這個(gè)圖我們可以看到,要達(dá)到一個(gè)理想的正向電流它的少子壽命至少要達(dá)到5μs以上,目前的外延片的少子壽命的參數(shù)大概在1~2個(gè)μs左右,所以說還對(duì)高壓器件的需求目前來說還沒法滿足,還需要后處理技術(shù)。 05.SiC外延片制備設(shè)備情況
碳化硅外延材料的主要設(shè)備,目前這個(gè)市場(chǎng)上主要有四家:
 1、德國的Aixtron:特點(diǎn)是產(chǎn)能比較大; 2、意大利的LPE,屬于單片機(jī),生長速率非常大。 3、日本的TEL和Nuflare,其設(shè)備的價(jià)格非常昂貴,其次是雙腔體,對(duì)提高產(chǎn)量有一定的作用。其中,Nuflare是最近幾年推出來的一個(gè)非常有特點(diǎn)的設(shè)備,其能高速旋轉(zhuǎn),可以達(dá)到一分鐘1000轉(zhuǎn),這對(duì)外延的均勻性是非常有利的。同時(shí)它的氣流方向不同于其他設(shè)備,是垂直向下的,所以它可以避免一些顆粒物的產(chǎn)生,減少滴落到片子上的概率。 06.行業(yè)格局
 在全球市場(chǎng)中,外延片企業(yè)主要有 DowCorning、II-VI、Norstel、Cree、羅姆、三菱電機(jī)、Infineon 等,多數(shù)是IDM公司。日本也存在比較優(yōu)越的碳化硅外延的供應(yīng)商,比如說昭和電工,但它已經(jīng)不是一個(gè)純粹的做碳化硅外延的,因?yàn)樗谇皫啄暌彩召徚巳毡镜男氯砧F,開始涉及到了碳化硅單晶的制備。 全球業(yè)內(nèi)的龍頭Cree旗下Wolfspeed,是IDM公司,除了對(duì)外提供襯底片和外延片,還做器件、模塊。Cree 占據(jù)襯底市場(chǎng)約 40%份額、器件市場(chǎng)約 23%份額。 在大陸市場(chǎng),純粹做外延片的有:瀚天天成(EpiWorld)和東莞天域半導(dǎo)體均可供應(yīng) 4-6 英寸外延片,中電科 13 所、55 所亦均有內(nèi)部供應(yīng)的外延片生產(chǎn)部門。臺(tái)灣地去有嘉晶電子。 北方華創(chuàng)目前為化合物半導(dǎo)體生產(chǎn)開發(fā)的相關(guān)刻蝕機(jī)等設(shè)備。公司表示在化合物半導(dǎo)體SiC/GaN 的刻蝕中存在諸多挑戰(zhàn),包括刻蝕的寬縱比、特殊的刻蝕輪廓的控制、刻蝕的選擇性以及過高/過低的刻蝕速率。 能訊半導(dǎo)體率先在國內(nèi)開展了GaN 材料與器件的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化,公司擁有先進(jìn)的GaN-on-Si 以及GaN-on-SiC 外延工藝,可以滿足微波功率器件及電力電子器件的應(yīng)用需求。在制造方面,公司有用亞微米柵極技術(shù)、鈍化層技術(shù)、襯底減薄VIA 通孔技術(shù)等。公司目前在昆山擁有6,000/年3” GaN 晶圓片的產(chǎn)能。 中車時(shí)代電氣為中國中車子公司,在功率半導(dǎo)體方面處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。半導(dǎo)體相關(guān)器件主要用途為軌道交通、輸變電及新能源領(lǐng)域。2018 年1 月實(shí)現(xiàn)國內(nèi)首條6” SiC芯片生產(chǎn)線技術(shù)調(diào)試完成,2 月產(chǎn)線已正式開始流片。該項(xiàng)目總投資為3.5 億元,可實(shí)現(xiàn)4”及6” SiC SBD、PiN、MOSFET 等器件的研發(fā)和制造。 07.應(yīng)用領(lǐng)域
從終端應(yīng)用層上來看在碳化硅材料在高鐵、汽車電子、智能電網(wǎng)、光伏逆變、工業(yè)機(jī)電、數(shù)據(jù)中心、白色家電、消費(fèi)電子、5G通信、次世代顯示等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,市場(chǎng)潛力巨大。 在應(yīng)用上,分為低壓、中壓和高壓領(lǐng)域 在低壓領(lǐng)域:主要是針對(duì)一些消費(fèi)電子,比如說PFC、電源;舉例子:小米和華為推出來快速充電器,所采用的器件就是氮化鎵器件。 在中壓領(lǐng)域:主要是汽車電子和3300V以上的軌道交通和電網(wǎng)系統(tǒng)。舉例子:特斯拉是使用碳化硅器件最早的一個(gè)汽車制造商,使用的型號(hào)是model3。 在中低壓領(lǐng)域,碳化硅和氮化鎵為競(jìng)爭(zhēng)關(guān)系,更傾向于氮化鎵。在中低壓碳化硅已經(jīng)有非常成熟的二極管和MOSFET產(chǎn)品在市場(chǎng)當(dāng)中推廣應(yīng)用。 在高壓領(lǐng)域:碳化硅有著獨(dú)一無二的優(yōu)勢(shì)。但迄今為止,在高壓領(lǐng)域現(xiàn)在還沒有一個(gè)成熟的產(chǎn)品的推出,全球都在處于研發(fā)的階段。 電動(dòng)車是碳化硅的最佳應(yīng)用場(chǎng)景 豐田的電驅(qū)動(dòng)模塊(電動(dòng)車的核心部件),碳化硅的器件比硅基IGBT 的體積縮小了50%甚至更多,同時(shí)能量密度也比硅基IGBT 高很多。這也是很多廠商傾向于使用碳化硅的原因,可以優(yōu)化零部件在車上的布置,節(jié)省更多的空間。 特斯拉Model 3 電驅(qū)動(dòng)模塊:采用24 顆意法半導(dǎo)體碳化硅器件,豐田也計(jì)劃2020年推出搭載碳化硅器件的電動(dòng)車,豐田作為日系廠商較為傾向于日系的供應(yīng)商,目前是三菱或富士在爭(zhēng)取這些業(yè)務(wù)和豐田開展合作。


來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察


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