泛華測控2010年DAQ數(shù)據(jù)采集研討會北京站圓滿落下帷幕

　　2010年3月25日，由北京中科泛華測控技術有限公司(以下簡稱：泛華測控)DAQ事業(yè)部主辦的2010數(shù)據(jù)采集全國巡回研討會北京北京站圓滿結束。

　　本次研討會中泛華測控DAQ事業(yè)部的工程師們?yōu)榈綀黾钨e們全面分析了在現(xiàn)今信息科技飛速發(fā)展的時代，數(shù)據(jù)采集所蘊藏的廣泛應用前景，并帶來了新一代NI系列數(shù)據(jù)采集技術。同時，泛華測控工程師們還與到場嘉賓們分享了新一代數(shù)據(jù)采集技術在各行業(yè)應用的成功案例與心得體會。其利用全新的數(shù)據(jù)采集平臺，結合各種傳感器，在現(xiàn)場搭建測試系統(tǒng)，使整套系統(tǒng)低成本、高效率、易攜帶、集成快等優(yōu)勢在現(xiàn)場一一呈現(xiàn)。這些精彩的演講與演示贏得了到場嘉賓的好評。

　　繼2009年成功舉辦全國巡回研討會后，2010年的數(shù)據(jù)采集巡回研討會也陸續(xù)拉開帷幕。在無錫站、北京站圓滿結束之后，還將在廈門、上海、蘇州、天津、杭州、常州、西安、合肥等十個城市舉辦。會議將以快速搭建高效精準的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為中心，以數(shù)據(jù)采集革新技術為切入點，深度剖析NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品從入門到高級的具體行業(yè)應用，分享行業(yè)成功經(jīng)驗!