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開發(fā)針對(duì)ECU測(cè)試的硬件在環(huán)、高速仿真與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

作者:Thomas J. Mangliers,Edward Frank 時(shí)間:2012-06-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  使用 PXI平臺(tái)進(jìn)行高速數(shù)據(jù)采集

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/133311.htm

  National Instruments產(chǎn)品是我們系統(tǒng)的核心。為我們的DAS系統(tǒng)提供所有的I/O,包括復(fù)雜信號(hào)產(chǎn)生、高速采集和車輛總線仿真和監(jiān)測(cè)。我們使用獨(dú)自開發(fā)了DAS和日志文件工具,我們的系統(tǒng)完全依賴于產(chǎn)品的速度和精度。我們無法為我們的應(yīng)用使用標(biāo)準(zhǔn)的采集卡,這是由于信號(hào)需要精確的定時(shí)。我們改為選擇使用NI R系列智能現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)DAQ模塊,來提供具有復(fù)雜定時(shí)的波形和仿真的傳感器輸出。NI PXI-7831R和PXI-7833R R系列智能DAQ模塊也使得我們能以更高的采樣率采集以及實(shí)時(shí)的輸出信號(hào)。

  DAS數(shù)據(jù)處理是我們所面臨的另一個(gè)問題。我們的解決方案是,使用中固有的并行處理機(jī)制開發(fā)一個(gè)日志文件工具,并使用一個(gè)多核的應(yīng)用程序,充分利用主機(jī)的全部運(yùn)算能力來處理我們的數(shù)據(jù)。

  使用National Instruments平臺(tái)的優(yōu)勢(shì)

  該DAS系統(tǒng)在正常的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下而不用在專門的整車實(shí)驗(yàn)室里,就可以使用現(xiàn)成的工具進(jìn)行測(cè)試,大大減少了我們客戶的成本。因?yàn)樵揇AS可以監(jiān)測(cè)和控制所有的信號(hào),所以我們一次就完成了測(cè)試,而之前客戶的舊采集系統(tǒng)因?yàn)榭捎猛ǖ罃?shù)有限,需要多次測(cè)試?,F(xiàn)在用戶可以在短短三個(gè)星期里完成測(cè)試流程,而采用舊的采集系統(tǒng)則需要三個(gè)月?! ?/p>


DGE高速DAS與DGE負(fù)載箱相連,用戶的ECU定時(shí)信號(hào)顯示實(shí)例  

由于系統(tǒng)以如此高的速率進(jìn)行監(jiān)測(cè),所以記錄每一次讀取會(huì)產(chǎn)生大量的數(shù)據(jù)。

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關(guān)鍵詞: NI LabVIEW ECU

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