使用經(jīng)認(rèn)證隔離器件確保安全的系統(tǒng)運(yùn)行

　　壽命壓力測(cè)試安排可參考圖3，各有5個(gè)光電耦合器、磁光隔離器和電容性隔離器一起放置于125°C的熱風(fēng)循環(huán)烘箱中。測(cè)試電壓為1.6Vrms的60Hz交流連續(xù)電壓，并持續(xù)測(cè)量泄漏電流。當(dāng)電流計(jì)檢測(cè)到超過(guò)100μA的泄漏電流時(shí)會(huì)發(fā)出警示音，當(dāng)發(fā)生擊穿時(shí)測(cè)試暫停并對(duì)所有受測(cè)器件(DUT, Devices Under Test)進(jìn)行泄漏電流測(cè)量以找出錯(cuò)誤來(lái)源?！　?/p>本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/137089.htm

 
圖3：高電壓壽命測(cè)試安排。

　　[圖說(shuō)]
　　Oven at 125°C = 測(cè)試溫度125°C
　　DUT = 受測(cè)器件(DUT)
　　Timer = 定時(shí)器

　　最終測(cè)試結(jié)果顯示，磁光隔離器和電容式隔離器分別在12小時(shí)和21小時(shí)時(shí)擊穿，光電耦合器測(cè)試則繼續(xù)進(jìn)行直到經(jīng)過(guò)4000過(guò)小時(shí)測(cè)試停止時(shí)還未發(fā)生失效情形，光電耦合器在測(cè)試中和測(cè)試后皆無(wú)未通過(guò)泄漏電流測(cè)試的情況發(fā)生。

　　表2總結(jié)了部份放電、壽命測(cè)試結(jié)果和各制造商所提供的預(yù)測(cè)壽命。

　　表2：部份放電和壽命測(cè)試結(jié)果?！　?/p>

 

　　結(jié)果顯示，光電耦合器不管是在部份放電測(cè)試和真實(shí)壽命壓力性能上都展現(xiàn)了良好的穩(wěn)定性和一致性。

　　另人訝異的是，磁光隔離器和電容式隔離器在非常短的時(shí)間內(nèi)就已經(jīng)擊穿，遠(yuǎn)比部份放電的預(yù)測(cè)和制造商本身的預(yù)測(cè)短上許多，為了保證測(cè)試的準(zhǔn)確性，我們進(jìn)行了數(shù)次類似的壽命測(cè)試，獲得的結(jié)果相當(dāng)一致。

　　為了提供安全的連續(xù)工作電壓規(guī)格，測(cè)試結(jié)果再次驗(yàn)證部份放電為光電耦合器的相關(guān)測(cè)試方法，然而部份放電測(cè)試卻完全不適合替代隔離器，特別是它的規(guī)格標(biāo)示可能過(guò)高并造成引發(fā)危險(xiǎn)的連續(xù)高工作電壓。

　　替代隔離器制造商應(yīng)該為部份放電測(cè)試加上額外的高電壓壽命模型技術(shù)，這些建模技術(shù)基于加速條件下產(chǎn)生的型態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù)，然而這個(gè)壽命預(yù)測(cè)方法還是存在部份風(fēng)險(xiǎn)，原因是：

　　1. 不應(yīng)為安全相關(guān)應(yīng)用假設(shè)失效率。

　　2. 加速情況和真實(shí)現(xiàn)場(chǎng)使用情況間有大幅度差異，可能造成建模方法大量誤差。

　　3. 對(duì)于生產(chǎn)變異并無(wú)持續(xù)監(jiān)測(cè)，并且沒(méi)有100%生產(chǎn)測(cè)試來(lái)過(guò)濾產(chǎn)出壞料，如針腳洞、灰塵和空心等問(wèn)題。

　　總結(jié)

　　國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)IEC 60747-5-5和基于IEC 60747-5-5稍早版本的歐洲標(biāo)準(zhǔn)DIN/EN 60747-5-2明白指出這個(gè)測(cè)試方法僅適合光電耦合器件和光電耦合器，并非磁光隔離器和電容式隔離器。標(biāo)準(zhǔn)將隔離結(jié)構(gòu)、絕緣材料、老化機(jī)制和壞料過(guò)濾測(cè)試都納入考慮。經(jīng)過(guò)數(shù)十年現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際應(yīng)用的數(shù)百萬(wàn)個(gè)光電耦合器所驗(yàn)證，高電壓壽命實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果非常符合光電耦合器的部份放電測(cè)試預(yù)測(cè)。

　　基于單石芯片制造工序的替代隔離器，如磁光隔離器和電容式隔離器通常采用薄層絕緣，相較于光電耦合器，這類隔離器在相同工作電壓下會(huì)面臨高了許多的電場(chǎng)壓力，因此，替代隔離器會(huì)受到相對(duì)較低連續(xù)工作電壓下其他各種老化機(jī)制的影響，基于部份放電原則的標(biāo)準(zhǔn)并不適合用來(lái)提供替代隔離器可靠的連續(xù)工作電壓規(guī)格。

　　部份制造商提供的附屬高電壓老化建模數(shù)據(jù)并無(wú)法取代獨(dú)立的安全標(biāo)準(zhǔn)，僅能提供強(qiáng)化應(yīng)用的部份參考。

　　實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果清楚顯示了在替代隔離器上使用光電耦合器標(biāo)準(zhǔn)的危險(xiǎn)，在市場(chǎng)開(kāi)始大量引入前建議必須進(jìn)行這類技術(shù)和其限制的深入研究。

　　在安全相關(guān)應(yīng)用中使用這類替代隔離器件會(huì)對(duì)設(shè)備使用者帶來(lái)安全上的風(fēng)險(xiǎn)，因此需要設(shè)計(jì)工程師仔細(xì)的檢驗(yàn)，以了解質(zhì)量是否符合法規(guī)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)和應(yīng)用到終端設(shè)備后長(zhǎng)期使用的可靠性。

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