科利登新推Sapphire D-40測試平臺

2006年7月11日，來自美國加州苗必達(dá)市（Milpitas）的消息，為世界半導(dǎo)體工業(yè)提供從設(shè)計到生產(chǎn)測試解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商--科利登系統(tǒng)有限公司 (Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)宣布：在其新的Sapphire D-40測試平臺上推出調(diào)制向量網(wǎng)絡(luò)分析(MVNA?)射頻測試選件。MVNA RF選件在測試無線電話，WLAN, WiMax以及Zigbee等器件上的能力，進(jìn)一步擴(kuò)展了Sapphire D系列的測試能力。  
移動通信，移動計算機(jī)以及無線個人局域網(wǎng)的快速增長持續(xù)地給芯片供應(yīng)商帶來了緊迫的成本壓力。當(dāng)今無線應(yīng)用采用了復(fù)雜度不斷增加的單芯片以及系統(tǒng)級芯片（SiP），這些設(shè)計都要求測試儀能夠進(jìn)行高并行度測試，具有很好的靈活性和可擴(kuò)展能力，以滿足業(yè)界在測試成本和上市時間的要求。具有MVNA RF選件的Sapphire D-40測試平臺可以很好的滿足這些迫切的測試挑戰(zhàn)，能提供四倍于當(dāng)今市場上競爭機(jī)型的并行測試能力。
科利登系統(tǒng)有限公司首席執(zhí)行官及總裁Dave Ranhoff說："Sapphire D-40的MVNA RF選件結(jié)合了科利登最前沿的MVNA技術(shù)，極大地擴(kuò)展了測試6GHz器件的并行測試能力。Sapphire D-40能提供16和32個端口的RF選件，使得客戶能把傳統(tǒng)的2site或4site的無線器件測試配置也應(yīng)用到射頻芯片的測試之中。"
科利登的MVNA RF選件源自于其被廣泛使用的ASL 3000RF測試平臺。MVNA RF結(jié)構(gòu)集成了眾多的專利技術(shù)，分布式信號處理，封裝的測試算法庫以及能提供足夠的RF測試精度和極短的測試時間的高性能的前端電子部件等。MVNA RF選件集成了先進(jìn)的數(shù)字信號處理算法，包括廣泛使用在W-CDMA,WiMax,802.11n以及其它的無線通信標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)中的調(diào)制波形和EVM測量算法，因而能提供非常高的測試程序開發(fā)效率。
MVNA RF選件能提供16或者32個RF通道和6GHz的頻率測量范圍。MVNA RF擁有4到8個并行接收端口，能進(jìn)行高效的多site測試。由于每個接收端口都有獨立的數(shù)字信號處理引擎，因而能進(jìn)真正的并行測試和處理。它所采用的全新的RF信號源復(fù)用技術(shù)能為多site測試提供很大的靈活性，RF信號源最多能達(dá)到4個。
Sapphire D-40的MVNA RF選件在今天正式出廠。

有關(guān)Sapphire D-40
Sapphire D-40平臺是業(yè)界領(lǐng)先的Sapphire系列的最新成員，集成了模擬，數(shù)字，混合信號和射頻測試儀器。Sapphire D-40能提供10到40個插槽，能支持超過3000個的通道以滿足多site測試的需求。結(jié)合科利登先前的獲獎平臺Sapphire D-10的專利技術(shù)，并依靠其擴(kuò)展的數(shù)據(jù)路徑結(jié)構(gòu)和高密度儀器，Sapphire D-40能提供最大的經(jīng)濟(jì)性和測試產(chǎn)能。