基于I2C串行通信的EEPROM在電視產(chǎn)品中設(shè)計與應(yīng)用

3.2 E2PROM部分區(qū)域物理損壞

常溫下，短期內(nèi)不會產(chǎn)生E2PROM部分區(qū)域物理損壞的現(xiàn)象。由于E2PROM在常溫下的可擦寫100萬次。但在高溫下，E2PROM的可擦寫數(shù)大大降低。如果高溫下頻繁對E2PROM進(jìn)行擦寫操作，短期內(nèi)易導(dǎo)致E2PROM部分區(qū)域物理損壞。其表現(xiàn)為特定數(shù)據(jù)無法正常存儲，即使使用燒錄器強(qiáng)制燒錄也不能恢復(fù)。判定E2PROM部分區(qū)域物理損壞的方法：用燒錄器將E2PROM中每個地址分別置0和1狀態(tài)，可檢查有無區(qū)域物理損壞。確認(rèn)是E2PROM損壞，則必須更換新的E2PROM才能排除電視機(jī)的故障。若軟件處理不當(dāng)則引起這種現(xiàn)象。要防止這種情況發(fā)生必須從軟件著手，從而避免對特定區(qū)域頻繁操作。典型實例是某高清CRT彩電AFT頻率自動跟蹤系統(tǒng)及其他一些判別系統(tǒng)的軟件設(shè)計。以AFT頻率自動跟蹤系統(tǒng)為例，當(dāng)環(huán)境工作溫度及電源電壓變化后，高頻調(diào)諧器會有一定的頻率點漂移。軟件設(shè)計時，頻率點偏移后，軟件程序應(yīng)即時記錄下新的頻率點偏移電壓值并將其數(shù)值存儲到E2PROM指定地址中。高溫下，由于相關(guān)器件的參數(shù)發(fā)生變化，頻點會隨溫度升高不斷漂移，使E2PROM數(shù)據(jù)刷新異常頻繁，從而導(dǎo)致電視機(jī)在高溫負(fù)荷試驗中出現(xiàn)E2PROM物理損壞。在查明原因后，應(yīng)對該軟件進(jìn)行修改，將實時存儲頻點數(shù)據(jù)方式改為頻率跟蹤掉電存儲方式，即只在電視機(jī)關(guān)機(jī)掉電的情況下記錄該數(shù)據(jù)，這樣可減少E2PROM數(shù)據(jù)刷新次數(shù)，從而解決上述問題。

4 結(jié)語

E2PROM作為一種通用存儲器件，在設(shè)計時往往容易忽視一些對其細(xì)節(jié)方面的考慮，其中一些問題在設(shè)計試制階段被發(fā)現(xiàn)并解決，還有一些問題是要在量產(chǎn)乃至售后一段時間后才暴露出來。因此，完整的現(xiàn)代電子產(chǎn)品系統(tǒng)，更多的是需要依靠軟硬件相互配合開發(fā)，才能使產(chǎn)品的可靠性到達(dá)最佳狀態(tài)。