科利登在IC China2006上展出SapphireD-10

科利登系統有限公司 宣布：在蘇州舉辦的第四年度中國國際集成電路產業(yè)展覽暨研討會上，科利登將展出其Sapphire D-10系統。IC China是半導體設備，材料和服務供應商的一個重要集會，同時也是加強在亞太及中國地區(qū)商業(yè)合作的極佳機會。 
Sapphire™ D-10平臺獲得了由<<測試測量世界>>授予的”最佳測試獎”獎項，是一款革新的高產能多功能圓片和封裝測試解決方案，特別為微控制器，無線基帶，顯示驅動及低成本消費類混合信號芯片測試市場的低成本需求而設計。她還能對應200Mbps的高速圓片測試市場，支持高度的并行測試。系統的采用模塊化設計結構，可靈活配置，最多能支持768個數字通道，并配備高密度的模擬和混合信號儀器，而其成本只有競爭機型的一半左右。
科利登系統有限公司Sapphire D產品組(SDG)副總裁Larry Dibattista說：“高度緊湊的Sapphire D-10系統在同一平臺上實現從桌面調試和特征分析系統到量產測試平臺的所有功能，這一先進理念是科利登最先提出來的。另外，Sapphire D-10的功耗遠遠小于其它類似功能和特性的機型。Sapphire D-10結合了體積小，升級方便以及總體成本低等諸多優(yōu)點，成為中國地區(qū)最具競爭力的測試解決方案。”
Sapphire D-10測試系統能迅速應對新產品以及多種類混合產品的測試，因而能保證客戶快速地進行新產品開發(fā)，充分地利用工廠和實驗室的測試儀資源。Sapphire D-10的開放式”即插即用”架構能提供10個通用的儀器插槽，這些插槽之間能夠任意互換。這些通用插槽使得Sapphire D-10系統能非常方便地從工程驗證系統升級為多site量產測試系統，或從數字測試系統轉換為混合信號測試系統。
科利登公司將在中國蘇州國際展覽中心IC China展會 #A-13號展臺展出其Sapphire D-10平臺。