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基于人工免疫算法的變壓器故障診斷方法

作者: 時(shí)間:2009-09-08 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
(6)循環(huán) 選擇下一抗原,循環(huán)步驟2。
(7)抑制 對(duì)記憶抗體Ar進(jìn)行抑制,刪除同類記憶抗體間親和力大于免疫抑制閾值Ys的記憶抗體,直至抗原與抗體的親和力接近。否則,隨機(jī)產(chǎn)生d個(gè)抗體Ad,則抗體集Ad*=ArUAd。
(8)檢驗(yàn) 計(jì)算檢驗(yàn)抗原集Ac和記憶抗體集Ur之間的歐氏距離,檢驗(yàn)抗原的類別。
L=||Ac一Ur||
3.3 參數(shù)選定
(1)抗體n的選擇 n為抗體集中被選擇用來克隆增殖的抗體個(gè)數(shù),n值越大則克隆集合Cj越大,這樣可加大記憶抗體的搜索空間,但也相應(yīng)增加了算法計(jì)算量;而n值越小則每次產(chǎn)生記憶抗體集的個(gè)數(shù)越少,導(dǎo)致算法迭代次數(shù)增多。通過試算可得出最佳的抗體選擇數(shù)為4。
(2)其他參數(shù)設(shè)置 初始化抗體個(gè)數(shù)N=20,抗體克隆規(guī)模K=10,自然死亡閾值Yd=l,抑制閾值Ys=0.15,新產(chǎn)生抗體數(shù)d=10。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/188665.htm

4 故障分析
常見的故障類型有:低溫過熱T1(t300℃)、中溫過熱T2(300℃t500℃)、高溫過熱T3(t>500℃)、局部放電PD、低能放電D1、高能放電D2等6種潛伏性故障類型。這里收集了478個(gè)故障樣本作為數(shù)據(jù)源。
將收集的故障樣本分為2部分,其中235個(gè)作為訓(xùn)練抗原集,剩下的243個(gè)作為檢驗(yàn)抗原集。輸入到上述的算法中,重復(fù)訓(xùn)練10次,得到的記憶抗體集個(gè)數(shù)平均為31,訓(xùn)練抗原的數(shù)據(jù)壓縮比為86%。計(jì)算243個(gè)檢驗(yàn)抗原和記憶抗體集的歐氏距離,得出總的準(zhǔn)確率為86.8%。表1為故障樣本經(jīng)算法處理后的結(jié)果及各種故障類型的診斷準(zhǔn)確率。

表2給出了12組故障實(shí)例。將算法的診斷結(jié)果和IEC三比值法進(jìn)行比較,可以看出,前者的診斷準(zhǔn)確率要高于后者。

5 結(jié)語(yǔ)
電力的人工免疫算法充分利用了人工免疫網(wǎng)絡(luò)的自學(xué)習(xí)和自記憶的優(yōu)點(diǎn),對(duì)故障樣本抗原進(jìn)行訓(xùn)練。獲取的記憶抗體集具有故障的類別信息,由于抗原和記憶抗體的作用要考慮兩者的類別信息,使記憶抗體能夠很好地學(xué)習(xí)和記憶同一類別抗原的數(shù)據(jù)特征,提高了算法的準(zhǔn)確度。通過實(shí)驗(yàn)的結(jié)果證明,人工免疫算法的準(zhǔn)確率要高于IEC三比值法,證明了該算法的有效性。


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