基于FPGA的高性能DAC芯片測試與研究

　　Sin 信號(hào)測試：輸入正弦波頻率25 kHz，AD 采樣率為100 MHz/s，輸出數(shù)字信號(hào)經(jīng)過Matlab 分析計(jì)算后，測得SNR是58 dB,SINAD 是57.75 dB,SFDR 是62.84 dB,THD 是58.62 dB,ENOB 是9.3 位。時(shí)域波形和FFT 變換后14 階諧波的頻譜如圖4 和圖5 所示。

圖4 sin 信號(hào)輸出時(shí)域波形

圖5 sin 信號(hào)輸出頻域波形

　　4 結(jié)語

　　以12 位、250 Ms/s DAC 芯片為例，在FPGA 的基礎(chǔ)上使用回路測試法，測試了其靜態(tài)特性參數(shù)和動(dòng)態(tài)特性參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，可以有效地測試DAC 芯片的靜態(tài)特性參數(shù)和動(dòng)態(tài)特性參數(shù)。同時(shí)可以測試不同分辨率和采樣速度的DAC 芯片，測試結(jié)果比普通模擬測試儀器的精度高，測試系統(tǒng)比專用DAC 自動(dòng)測試設(shè)備成本低。