單片機之AD學習筆記

AD轉(zhuǎn)換就是選通道、比較電壓、要采集電壓的端口設(shè)置為模擬端口

1、選擇參考電壓源

2、選擇AD轉(zhuǎn)換時鐘

3、要采集電壓的端口設(shè)置為模擬端口

4、選擇要采樣的模擬通道

5、使能AD模塊

PIC24FJ

開始看此部分是調(diào)試電池電量的時候，是由于電池電量顯示不準確，debug模式下，看ad采集到的電壓被轉(zhuǎn)換成的數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)寄存器ADC1BUF中的數(shù)據(jù)只有關(guān)開機是正確的，以后的值都是不對的好像大多數(shù)的值是零，后來發(fā)現(xiàn)是由于在主循環(huán)中的某個模塊又把原來配置為模擬輸入端口引腳還原成了普通的I/O口了（就是AD1PCFGbits.PCFG0先被配置為0后又被置1，我用的是通道0）。

A/D代碼初始化實例

AD1PCFG = 0; // 配置ad端口，配置所有端口為模擬端口，要是作為普通io使用必須置1
AD1CON1 = 0x2208; // 配置采樣時鐘源
AD1CON2 = 0; // 配置A/D 比較電壓，轉(zhuǎn)換在每個采樣結(jié)束后開始
AD1CON3 = 0; // 配置 A/D 轉(zhuǎn)換時鐘 是Tcy/2
AD1CHS = 0; // 配置輸入通道,CH0+輸入 AN0,CH0-輸入 Vr- (AVss).
AD1CSSL = 0; // 輸入掃描被禁止
IFS0bits.AD1IF = 0; // 清中斷

IPC3bits.AD1IP2 =1;
IPC3bits.AD1IP1 =1;

IPC3bits.AD1IP0 =0; //配置 A/D 中斷優(yōu)先級

IEC0bits.AD1IE = 1; //使能 A/D 中斷
AD1CON1bits.ADON = 1; //打開 A/D
AD1CON1bits.SAMP = 1; // 開始采樣輸入
Delay(); //延時，確保開始轉(zhuǎn)換時，采樣的時間已結(jié)束
AD1CON1bits.SAMP = 0; // A/D采樣結(jié)束，開始轉(zhuǎn)換

中斷
void __attribute__ ((__interrupt__)) _ADC1Interrupt(void)
{
IFS0bits.AD1IF = 0;
}
在pic的數(shù)據(jù)手冊中有比較詳細的例程，值得參考

MSP430

這個單片機的比較電壓可以選擇內(nèi)部或外部的

問題：AD轉(zhuǎn)換，單通道單次轉(zhuǎn)化和單通道多次轉(zhuǎn)換有什么區(qū)別

單次轉(zhuǎn)換是指進行一次轉(zhuǎn)換前需要你給一次指令。
連續(xù)轉(zhuǎn)換的話開啟后自動連續(xù)進行轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)連續(xù)進行更新。
如果你采用單次轉(zhuǎn)換，就需要不斷發(fā)送轉(zhuǎn)換的命令，讀取結(jié)果，再發(fā)轉(zhuǎn)換命令，再讀。就是循環(huán)啦。
如果連續(xù)轉(zhuǎn)換開啟的話，就在程序中循環(huán)讀就可以了。

STM32

在采集電池電壓時遇到了問題，3.9v到4.2v的電壓得到的ad轉(zhuǎn)換的電壓值的寄存器存儲的電壓值正常，3.9v以下的值不正確，發(fā)現(xiàn)是Vref+輸入的比較電壓不穩(wěn)定造成的。