新聞中心

EEPW首頁(yè) > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 堵住泄漏:當(dāng)心電容器漏電!

堵住泄漏:當(dāng)心電容器漏電!

作者: 時(shí)間:2016-12-09 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

最近,一位客戶提出了令人費(fèi)解的電路工作情況問(wèn)題。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201612/328372.htm

其電路使用一款運(yùn)算放大器在極低頻率下放大擴(kuò)音器輸出。他采用大型 (47 μF) AC 耦合電容器及高輸入阻抗 (100 kΩ) 為其測(cè)量獲得低轉(zhuǎn)角頻率。

遺憾的是,運(yùn)算放大器輸出端出現(xiàn)了幾乎 1 伏特的大量 DC 失調(diào)。這是怎么回事?

我最喜歡的一句名言是丹麥物理學(xué)家 Niels Bohr 說(shuō)過(guò)的:“專家就是在一個(gè)非常狹窄領(lǐng)域犯了所有可犯錯(cuò)誤的人。”我覺(jué)得自己還不是一名專家,但這就是我犯過(guò)的一個(gè)錯(cuò)誤。

1

摘自 TI E2E 社區(qū)高精度放大器論壇的客戶電路圖
其運(yùn)算放大器輸出端出現(xiàn)了大量失調(diào)

看看圖 1 中的客戶原理圖,C1 電容器值可為該失調(diào)源提供重要的線索。大型電容器(特別是電解質(zhì)與鉭質(zhì)電容器)可能有極大的泄漏電流。這可導(dǎo)致在輸入電阻器 R2 上產(chǎn)生電壓,運(yùn)算放大器會(huì)對(duì)其進(jìn)行放大。

要知道泄漏電流來(lái)自哪里,我們先來(lái)看看電容器的基本結(jié)構(gòu)。

2

電容器的基本結(jié)構(gòu)為兩個(gè)間距為“d”的“A”面積電極板

圖 2 中的電容器包括兩個(gè)由一些絕緣物質(zhì)(藍(lán)色顯示)隔開(kāi)的電極板。該結(jié)構(gòu)中的電容 C 可通過(guò)以下方程式計(jì)算:

該電容取決于:

  1. 電介質(zhì) εr(εo為自由空間介電常數(shù))的相對(duì)介電常數(shù)、
  2. 電極“A”的面積以及
  3. 他們的間距“d”。

該結(jié)構(gòu)還會(huì)產(chǎn)生電阻:

電阻 R 由介電材料“ρ”的電阻系數(shù)以及電極面積及其間距決定??上](méi)有完美的絕緣介電材料。實(shí)際上 Teflon 也只有 1?1023至 1?1025(Ωm) 的有限電阻系數(shù)。

R 被稱為“絕緣電阻”,與電容并列。此外,提高電容的因素還會(huì)導(dǎo)致絕緣電阻的降低。為了說(shuō)明這種趨勢(shì),我還針對(duì)幾個(gè)額定 10 V 電解質(zhì)電容器,繪制了絕緣電阻與電容的比值圖。[1] 見(jiàn)圖 3。

3

在相等電壓額定值下,電容器越大,電容器絕緣電阻越低

電容器的絕緣電阻通常取決于電容器的額定電壓,但不是所有應(yīng)用電壓都一樣。

因此,通過(guò)電容器的泄漏電流會(huì)因應(yīng)用電壓而發(fā)生極大的變化。[2](見(jiàn)圖 4)

4

DC 泄漏在極大程度上取決于應(yīng)用電壓

通常,在 40% 的額定電壓下,泄漏電流將降至其額定值的 10%,如圖 4 所示。因此,既可提高電容器電壓額定值,降低泄漏電流,也可轉(zhuǎn)換至超低泄漏的電解化學(xué)類型。[3]

我通常采用聚丙烯薄膜電容器實(shí)現(xiàn)低泄漏耦合應(yīng)用。如果我真正需要低泄漏,我就會(huì)去我同事 Thomas Kuehl 的辦公室借真空電容器(圖 5),盡管 47 μF 的真空電容器會(huì)很大!

5

50 pF、20 kV 的真空電容器

在調(diào)試電路時(shí),通常原理圖上沒(méi)有諸如耦合電容器絕緣電阻等組件,這就會(huì)帶來(lái)問(wèn)題。無(wú)源組件將在理想模式下工作的假設(shè),只是我從我努力成為一名專家過(guò)程中了解到的眾多錯(cuò)誤之一。我不知道我的下一個(gè)錯(cuò)誤將是什么。

參考資料:

[1]《招商簡(jiǎn)介》,Acacia Research 公司(2013 年 2 月);

[2] 《具有導(dǎo)電聚合物的 SMD 固態(tài)鋁電容器》,Vishay OS-CON,文件編號(hào) 90021,2012 年 8 月 28 日;

[3]《鉭質(zhì)電容器應(yīng)用手冊(cè)》,位于南卡羅來(lái)納州格林威爾的 Kemet Electronics 公司;

[4] 作者:Williams, Tim,《電路設(shè)計(jì)人員手冊(cè)》,位于 Burlington MA 的Elsevier ltd.,? 2005 年版權(quán)所有。

關(guān)于作者:John Caldwell 現(xiàn)任德州儀器高精度線性產(chǎn)品部應(yīng)用工程師,主要負(fù)責(zé)為運(yùn)算放大器與工業(yè)線性器件提供支持,專門從事針對(duì)傳感器、低噪聲設(shè)計(jì)及測(cè)量,以及電池干擾問(wèn)題的高精度電路設(shè)計(jì)。John 畢業(yè)于弗吉尼亞理工學(xué)院,獲電氣工程學(xué)士學(xué)位及碩士學(xué)位,主攻生物電子與儀表研究。



關(guān)鍵詞: 電容器漏

評(píng)論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉