淺談手機(jī)輻射騷擾抗擾度測試(RS)及整改方法
(一)試驗(yàn)方法和等級(jí):
表1 試驗(yàn)等級(jí)
等級(jí) | 試驗(yàn)場強(qiáng)V/m |
1 | 1 |
2 | 3 |
3 | 10 |
X | 特定 |
注:X是一個(gè)開放等級(jí) |
2)頻率掃描步長應(yīng)為瞬時(shí)頻率的1%。
3)試驗(yàn)應(yīng)在80MHZ-1GHZ整個(gè)頻率范圍內(nèi)進(jìn)行,但發(fā)信機(jī),收信機(jī)或作為收發(fā)信機(jī)一部分的收信機(jī)的免測頻段除外。
4)實(shí)驗(yàn)時(shí),手機(jī)應(yīng)放置于一個(gè)0.8M高的絕緣試驗(yàn)臺(tái)上。
5)如果受試設(shè)備的進(jìn)、出線沒有規(guī)定,則使用非屏蔽平行導(dǎo)線。從受試設(shè)備引出的連線暴露在電磁場中的距離為1M。
6)受試設(shè)備的連線應(yīng)平行于均勻域布置,以使其處于較敏感的位置。
(二)性能判據(jù):
試驗(yàn)時(shí),應(yīng)建立并保持通信連接。如果收信機(jī)或作為收發(fā)信機(jī)一部分的收信機(jī)在離散頻率點(diǎn)的相應(yīng)是窄帶相應(yīng),那么此相應(yīng)忽略不計(jì)。試驗(yàn)頻率應(yīng)記錄在報(bào)告中
1) 對(duì)EUT,當(dāng)通過一個(gè)CF為1KHZ,BW為200HZ的音頻BPF測量是,上行和下行語音輸出電平應(yīng)至少比記錄的參考電平低35dB。試驗(yàn)后,EUT應(yīng)正常工作,沒有用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失,并且保持通信連接。
2) 試驗(yàn)時(shí),EUT下行鏈路的RXQUAL的值應(yīng)不超過3. 空閑模式下也要進(jìn)行測試。
以上是相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)要求,但是為了提供手機(jī)的性能一些大的手機(jī)生產(chǎn)廠商把測試等級(jí)加強(qiáng),如諾基亞把試驗(yàn)等級(jí)為場強(qiáng)提高到10V/M,并且試驗(yàn)頻率在80MHZ-2GHZ的范圍內(nèi)進(jìn)行。這就提高了手機(jī)的性能,加強(qiáng)了客戶對(duì)諾基亞的信任。
(三)容易出現(xiàn)的問題:
1)手機(jī)在測試過成中出現(xiàn)斷話,只有重新建立通話才能測試。(如果此問題反復(fù)出現(xiàn)說明手機(jī)設(shè)計(jì)有比較嚴(yán)重的問題,一般需要更改手機(jī)內(nèi)部的電路板)
2)上行和下行語音輸出電平超出記錄的參考電平35dB。
3)下行鏈路的RXQUAL的值超過3.
(四)整改方法:
輻射騷擾抗擾度測試(RS)的測試除了和手機(jī)本身有很大關(guān)系外,和充電器及電池也有很大關(guān)系。因?yàn)轵}擾信號(hào)可能通過充電器和電池耦合到手機(jī)的內(nèi)部從而影響手機(jī)的性能。整改方法如下:
1)在充電器的線上加磁環(huán),磁環(huán)的作用能濾波,從而減少或消除沖充電器騷擾到手機(jī)內(nèi)部,磁環(huán)的應(yīng)選擇質(zhì)量較好的,加在充電器兩端,如下圖所示:
圖一
圖二
圖三
說明:圖一和圖二是常用的加磁環(huán)的方法,如果還不能通過就采用圖三所示的方法。
2)另外可能造成測試FAIL的原因是電池,可以挑選通過相關(guān)認(rèn)證的電池,或?qū)㈦姵匕香~箔來消除或減少對(duì)手機(jī)的騷擾。
以上所述只是一些常用的整改方法。在手機(jī)的設(shè)計(jì)過程中,必須考慮到EMC和SAR的各種測試的要求,其中各個(gè)測試標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)有時(shí)是相互矛盾的,這就需要手機(jī)廠商和設(shè)計(jì)公司找到各個(gè)測試項(xiàng)目的平衡點(diǎn)??傊謾C(jī)如要順利通過EMC測試,貴在設(shè)計(jì)。
評(píng)論