并行且便攜式的測試系統(tǒng)：提高儀器使用率，降低測試成本

幸運的是，摩爾定律對我們也是有利的——當小配件變得更為復雜時，測試設備同時也變得更為智能。例如， PXI平臺，通過軟件定義的方法進行測試，它所提供的下一代設備更加靈活、功能強大、性能更好，并且其尺寸更小、成本更低。利用軟件定義的儀器，測試工程師可以將PC領域的先進技術（如具有多核心的更快的處理器）轉化為測試性能的切實改善。

通過NI TestStand內置的并行測試性能，您可以并行測試多個設備并且可以輕易地提高測試系統(tǒng)的整體性能。在每個測試系統(tǒng)上同時有效地測試多個設備可以降低您所需要測試系統(tǒng)的數量。這不僅可以減少測試設備的前期資本投入，并且減少空間占用和功耗要求。

案例：測試智能手機

假定您正在測試智能手機并且要在一部手機上運行三個不同的測試：（1）功耗測試，使用一個可編程的電源測量單元（SMU）；（2）GSM測試，使用一個RF矢量信號發(fā)生器（VSG）；（3）音頻質量測試，使用動態(tài)信號分析儀（DSA）。假定這些測試都是用一個單位時間來執(zhí)行。

圖1.此NI PXIe-1075系統(tǒng)所展示的幾位PXI自動化測試系統(tǒng)的典型范例，具有VSG、SMU、DSA以及所需的開關模塊。

在一個典型的測試系統(tǒng)上，每次測試一部手機，順序進行，您可以在每三個單位時間內測試一部手機。測試三部手機將需要9（3 x 3 = 9）個單位時間。

如圖2所示的順序測試的例子，每個測試儀器，9個單位時間中的有6個是閑置的。也就是每個儀器有66%的停機時間。試想一下，如果使用這個停機時間開始測試下一個手機，那么您的測試系統(tǒng)將會多么有效率。這正是使用并行測試的原因。

圖2. 測試三部手機需要9個單位時間，而使用自動排序測試3部手機僅需要三個單位時間，優(yōu)化了儀器使用

并行測試：提高儀器使用率

有一個簡單的方法來提高儀器使用率，并且更有效率的測試設備，即：使用同一套儀器并行地測試多種設備（也就是同時工作）。NI自動測試平臺提供了所有您所需要的工具，包括硬件和軟件。

從硬件角度來看，一個開關模塊可以幫助連接您的測試儀器，例如DSA和SMU，連接到多個DUT，并且以編程的方式在連接間切換。例如，您可以控制哪個智能手機在任何指定的時間與DSA連接。NI提供了具有多種拓撲結構的各種基于PXI平臺的開關模塊（包括RF開關）來滿足任何應用需求。

從軟件的角度來看，NI TestStand是一個現成的測試管理軟件，為并行測試提供了內置的過程模型（執(zhí)行配置），可以輕松地并行測試多個設備，而對于現有的測試代碼只需做微小的變化。NI TestStand是線程安全的，并且具有標準的同步機制，例如，鎖、信號量等等。此外，NI TestStand 集成了NI Switch Executive ，您可以用圖形化的方式配置開關路由。

現在可以改進之前的例子，使您的測試架構能夠同時容納三個智能手機。通過添加開關模塊到您的測試系統(tǒng)中，并且開啟NI TestStand并行測試模式，現在您可以并行測試這三個手機（如圖2所示的并行測試例子）。

現在，您在5個單位時間內測試3部手機，減少了44%的測試時間。此外，每個儀器僅空閑了兩個單位時間，這意味著儀器的停機時間由66%降至40%。這種瀑布式或流水線式效果是由于每個儀器僅能夠在同一時間內測試一部智能手機，并且測試在一個特定的序列運行時是靜態(tài)配置的（GSM測試后是功率測試，然后是音頻測試）。

自動排序并行測試：智能測試序列

您可以通過利用autoscheduling功能進一步優(yōu)化您的測試系統(tǒng)，這是NI TestStand 的一個功能,可以在執(zhí)行期間自動排序測試序列，其前提是那個儀器是空閑的。開發(fā)者可以指定具體有哪些測試可以被自動重新排序，這樣操作者依然能夠控制某個測試或動作以特定的順序執(zhí)行（這對于設置和取消設置過程是很重要的）。

由于NI TestStand 能夠智能地排列測試，因此您可以避免前面看到的流水線式效果。現在，您可以僅用三個單位時間即可測試三部手機，而在之前，測試一部手機就要使用這么多的時間。您可以有效地減少了66%的測試時間，并且將儀器停機時間降到0，可以更加充分的利用儀器。

總而言之，NI的軟件定義的自動化測試平臺，利用其先進的并行測試性能，讓您可以使用一組儀器（也就是，一個測試站）來并行測試多個設備。這也意味著您可以使用更少的測試站測試相同數量的手機，從而大大減少了測試設備的成本，而無需犧牲測試吞吐量。