新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 新應(yīng)用 | 橫掃第四代串行測試(之二)

新應(yīng)用 | 橫掃第四代串行測試(之二)

作者: 時(shí)間:2016-12-27 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
隨著各種重大行業(yè)規(guī)范不斷進(jìn)化,如PCIe,我們的測試測量工具也必須保持同步發(fā)展。DPO70000SX示波器提供了無可比擬的準(zhǔn)確度和擴(kuò)充能力,與我們的PCIe解決方案增強(qiáng)功能相結(jié)合,使得廣大客戶能夠調(diào)試和檢驗(yàn)是否滿足PCIe最新版規(guī)范,同時(shí)縮短一致性測試時(shí)間,提升生產(chǎn)效率。

PCIExpress基本規(guī)范修訂版4.0第0.7版相當(dāng)復(fù)雜,內(nèi)容有1,000多頁,測試工程師迅速上手面臨著極大的挑戰(zhàn)。泰克與行業(yè)機(jī)構(gòu)密切合作,如PCI-SIG®,幫助把行業(yè)規(guī)范測試要求轉(zhuǎn)換成簡便易用的交鑰匙式測試解決方案,提供清楚簡明的特性分析報(bào)告。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201612/334410.htm

PCIe4.0技術(shù)提高了數(shù)據(jù)速率,同時(shí)也帶來了許多全新的測試挑戰(zhàn),如通道損耗大大提高,總抖動(dòng)預(yù)算縮緊,鏈路培訓(xùn)和定時(shí)要求更加復(fù)雜。隨著設(shè)計(jì)裕量縮小,準(zhǔn)確的特定標(biāo)準(zhǔn)測量解決方案在調(diào)試、設(shè)計(jì)檢驗(yàn)和互操作能力測試中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。泰克最新PCIe4.0和3.0測試解決方案與DPO70000SX高性能示波器相結(jié)合,全面滿足了所有上述需求。

PCIe 4.0發(fā)射機(jī)測試

泰克為DPO/DPS70000SX和DPO/MSO70000DX高性能示波器開發(fā)的選項(xiàng)PCE4提供了最新PCIe4.0基本規(guī)范專用的新型發(fā)射機(jī)(Tx)測量,包括100 MHz基準(zhǔn)時(shí)鐘,其實(shí)現(xiàn)了皮秒級(jí)抖動(dòng)要求,適用于所有四代PCIExpress規(guī)范,即2.5、5.0、8.0和16.0GT/s。其他增強(qiáng)功能有:支持最新U.2外形(原SFF-8639);新增優(yōu)化功能,把整體測試時(shí)間縮短了大約30%。同樣這些功能還作為泰克為PCIExpress 3.0技術(shù)提供的解決方案——選項(xiàng)PCE3的增強(qiáng)功能提供。

PCIe 4.0接收機(jī)測試

泰克現(xiàn)在支持PCIe4.0和PCIe3.1a基本規(guī)范接收機(jī)測試。通過這些解決方案,泰克BERTScope誤碼率測試儀和泰克高性能實(shí)時(shí)示波器自動(dòng)校準(zhǔn)壓力眼圖張開,測試接收機(jī)合規(guī)性和抖動(dòng)容限。這些解決方案采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法,由泰克與合作伙伴GraniteRiver Labs共同提供,擁有簡單的用戶界面,自動(dòng)執(zhí)行PCIe測試,明顯縮短設(shè)備校準(zhǔn)時(shí)間。這些解決方案還支持循環(huán)通過各種定時(shí)和電壓參數(shù),采用用戶定義的量程,創(chuàng)建二維結(jié)果圖。

行業(yè)驗(yàn)證

PCI Express基本規(guī)范修訂版4.0第0.7版相當(dāng)復(fù)雜,內(nèi)容有1,000多頁,測試工程師迅速上手面臨著極大的挑戰(zhàn)。泰克與行業(yè)機(jī)構(gòu)密切合作,如PCI-SIG®,幫助把行業(yè)規(guī)范測試要求轉(zhuǎn)換成簡便易用的交鑰匙式測試解決方案,提供清楚簡明的特性分析報(bào)告。



關(guān)鍵詞: 串行測

評(píng)論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉