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ROHS檢測(cè)儀分析結(jié)果的步驟說明

作者: 時(shí)間:2017-01-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡單。

  ROHS檢測(cè)儀

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201701/336417.htm

分析原理

  ROHS檢測(cè)儀

就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡單。

  波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測(cè)定角度,即可獲得待測(cè)元素的譜線波長:

  λ=2dsinaθ(n=1,2,3…)

  式中,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角,利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測(cè)元素的特征信息。

  能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量:

  Q=kE

  式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

  待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

  為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。



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