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信號(hào)完整性分析基礎(chǔ)系列之九--時(shí)鐘的抖動(dòng)測(cè)量與分析

作者: 時(shí)間:2017-01-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
時(shí)鐘是廣泛用于計(jì)算機(jī)、通訊、消費(fèi)電子產(chǎn)品的元器件,包括晶體振蕩器和鎖相環(huán),主要用于系統(tǒng)收發(fā)數(shù)據(jù)的同步和鎖存。如果時(shí)鐘信號(hào)到達(dá)接收端時(shí)抖動(dòng)較大,可能出現(xiàn):并行總線中數(shù)據(jù)信號(hào)的建立和保持時(shí)間余量不夠、串行信號(hào)接收端誤碼率高、系統(tǒng)不穩(wěn)定等現(xiàn)象,因此時(shí)鐘抖動(dòng)的測(cè)量與分析非常重要。

時(shí)鐘抖動(dòng)的分類與定義
時(shí)鐘抖動(dòng)通常分為時(shí)間間隔誤差(Time Interval Error,簡稱TIE),周期抖動(dòng)(Period Jitter)和相鄰周期抖動(dòng)(cycle to cycle jitter)三種抖動(dòng)。
TIE又稱為phase jitter,是信號(hào)在電平轉(zhuǎn)換時(shí),其邊沿與理想時(shí)間位置的偏移量。理想時(shí)間位置可以從待測(cè)試時(shí)鐘中恢復(fù),或來自于其他參考時(shí)鐘。Period Jitter是多個(gè)周期內(nèi)對(duì)時(shí)鐘周期的變化進(jìn)行統(tǒng)計(jì)與測(cè)量的結(jié)果。Cycle to cycle jitter是時(shí)鐘相鄰周期的周期差值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)與測(cè)量的結(jié)果。
對(duì)于每一種時(shí)鐘抖動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)和測(cè)量,可以得到其抖動(dòng)的峰峰值和RMS值(有效值),峰峰值是所有樣本中的抖動(dòng)的最大值減去最小值,而RMS值是所有樣本統(tǒng)計(jì)后的標(biāo)準(zhǔn)偏差。如下圖1為某100M時(shí)鐘的TIE、Period Jitter、Cycle to Cycle jitter的峰峰值和RMS值的計(jì)算方法。


圖1:三種時(shí)鐘抖動(dòng)的計(jì)算方法時(shí)鐘抖動(dòng)的應(yīng)用范圍
在三種時(shí)鐘抖動(dòng)中,在不同的應(yīng)用范圍需要重點(diǎn)測(cè)量與分析某類時(shí)鐘抖動(dòng)。TIE抖動(dòng)是最常用的抖動(dòng)指標(biāo),在很多芯片的數(shù)據(jù)手冊(cè)上通常都規(guī)定了時(shí)鐘TIE抖動(dòng)的要求。對(duì)于串行收發(fā)器的參考時(shí)鐘,通常測(cè)量其TIE抖動(dòng)。如下圖2所示,在2.5Gbps的串行收發(fā)器芯片的發(fā)送端,參考時(shí)鐘為100MHz,鎖相環(huán)25倍頻到2.5GHz后,為Serializer(并行轉(zhuǎn)串行電路)提供時(shí)鐘。當(dāng)參考時(shí)鐘抖動(dòng)減小時(shí),TX輸出的串行數(shù)據(jù)的抖動(dòng)隨之減小,因此,需要測(cè)量該參考時(shí)鐘的TIE抖動(dòng)。另外,用于射頻電路的時(shí)鐘通常也需測(cè)量其TIE抖動(dòng)(相位抖動(dòng))。


在并行總線系統(tǒng)中,通常重點(diǎn)關(guān)注period jitter和cycle to cycle jitter。比如在共同時(shí)鐘總線(common clock bus)中(如圖3所示),完整的數(shù)據(jù)傳輸需要兩個(gè)時(shí)鐘脈沖,第一個(gè)脈沖用于把數(shù)據(jù)鎖存到發(fā)送芯片的IO Buffer,第二個(gè)脈沖將數(shù)據(jù)鎖存到接收芯片中,在一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)讓數(shù)據(jù)從發(fā)送端傳送到接收端,當(dāng)發(fā)送端到接收端傳輸延遲(flight time)過大時(shí),數(shù)據(jù)的建立時(shí)間不夠,傳輸延遲過小時(shí),數(shù)據(jù)的保持時(shí)間不夠;同理,當(dāng)這一個(gè)時(shí)鐘的周期值偏大時(shí),保持時(shí)間不夠;周期值偏小時(shí),建立時(shí)間不夠??梢?,時(shí)鐘周期的變化直接影響建立保持時(shí)間,需要測(cè)量period jitter和cycle to cycle jitter。關(guān)于共同時(shí)鐘總線的時(shí)序分析的詳細(xì)講解,請(qǐng)參考Stephen H. Hall、Garrett W. Hall和James A. McCall寫的信號(hào)完整性分析書籍:《High-Speed Digital System Design》。


另外一種常見的并行電路-源同步總線(Source Synchronous bus),通常也重點(diǎn)測(cè)量period jitter和cycle to cycle jitter。比如DDR2就屬于源同步總線,在Intel DDR2 667/800 JEDEC Specification Addendum規(guī)范中定義了時(shí)鐘的抖動(dòng)測(cè)試包括周期抖動(dòng)和相鄰周期抖動(dòng),分別如表格1中tJIT(per)和tJIT(cc),此外,還需要測(cè)量N-Cycle jitter,即N個(gè)周期的相鄰周期抖動(dòng),比如表格1中tERR(2per)是連續(xù)2個(gè)周期的周期值與下2個(gè)周期的周期值的時(shí)間差,tERR(3per)是3個(gè)周期組合的相鄰周期抖動(dòng),依此類推。


表1:DDR2-667/800的時(shí)鐘抖動(dòng)要求時(shí)鐘抖動(dòng)的來源和分解
時(shí)鐘的抖動(dòng)可以分為隨機(jī)抖動(dòng)(Random Jitter,簡稱Rj)和固有抖動(dòng)(Deterministic jitter),隨機(jī)抖動(dòng)的來源為熱噪聲、Shot Noise和Flick Noise,與電子器件和半導(dǎo)體器件的電子和空穴特性有關(guān),比如ECL工藝的PLL比TTL和CMOS工藝的PLL有更小的隨機(jī)抖動(dòng);固定抖動(dòng)的來源為:開關(guān)電源噪聲、串?dāng)_、電磁干擾等等,與電路的設(shè)計(jì)有關(guān),可以通過優(yōu)化設(shè)計(jì)來改善,比如選擇合適的電源濾波方案、合理的PCB布局和布線。和串行數(shù)據(jù)的抖動(dòng)分解很相似,時(shí)鐘的抖動(dòng)可以分為Dj和Rj。但不同的是,時(shí)鐘的固有抖動(dòng)中通常只有周期性抖動(dòng)(Pj),不包括碼間干擾(ISI)。當(dāng)時(shí)鐘的上下邊沿都用來鎖存數(shù)據(jù)時(shí)占空比時(shí)鐘(DCD)計(jì)入固有抖動(dòng),否則不算固有抖動(dòng)。
時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)量方法
在上個(gè)世紀(jì)90年代,抖動(dòng)的測(cè)量方法非常簡單,示波器觸發(fā)到時(shí)鐘的一個(gè)上升沿,使用余輝模式,測(cè)量下一個(gè)上升沿余輝在判定電平上(通常為幅度的50%)的水平寬度。測(cè)量水平寬度有兩種方法。第一種使用游標(biāo)測(cè)量波形邊沿余輝的寬度,如下圖4所示。由于像素偏差或屏幕分辨率(量化誤差)會(huì)降低精度,而且引入了觸發(fā)抖動(dòng),所以這種方法誤差較大。


圖4:使用模擬余輝加游標(biāo)來測(cè)量抖動(dòng)
第二種使用直方圖,對(duì)邊沿余輝的水平方向進(jìn)行直方圖統(tǒng)計(jì),如下圖5所示。測(cè)量直方圖的最左邊到最右邊的間距即為抖動(dòng)的峰峰值(168皮秒)。這種方法的缺點(diǎn)是:引入了示波器的觸發(fā)抖動(dòng);一次只測(cè)量一個(gè)周期,測(cè)試效率低,某些出現(xiàn)頻率低的抖動(dòng)在短時(shí)間內(nèi)不能測(cè)量到。

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