什么是ATE自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備?

　 　ATE在60年代早期始于快捷半導(dǎo)體（Fairchild）。 那時(shí)Fairchild生產(chǎn)門(mén)電路器件（如14管腳雙列直插與非門(mén)IC）和簡(jiǎn)單的模擬集成電路器件（如6管腳雙列直插運(yùn)算放大器）。當(dāng)時(shí)對(duì)于器件量產(chǎn)測(cè)試 是一個(gè)很大的問(wèn)題。 Fairchild開(kāi)發(fā)了計(jì)算機(jī)控制的測(cè)試設(shè)備，如5000C用于簡(jiǎn)單模擬器件測(cè)試，Sentry 200用于簡(jiǎn)單門(mén)電路器件測(cè)試。兩種機(jī)器都是由Fairchild自主開(kāi)發(fā)的計(jì)算機(jī)FST2進(jìn)行控制。FST2是一種簡(jiǎn)單的24位，10MHz計(jì)算機(jī)。

　 　70年代早期，器件開(kāi)發(fā)由小規(guī)模集成電路過(guò)渡到中規(guī)模集成電路，又于80年代早期從大規(guī)模集成電路過(guò)渡到超大規(guī)模集成電路。對(duì)于器件制造商來(lái)說(shuō)，這時(shí)計(jì) 算機(jī)控制的測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)成為主要的測(cè)試設(shè)備。Fairchild開(kāi)發(fā)了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8測(cè)試系統(tǒng)用于數(shù)字器件測(cè)試。

　　80年代中期，門(mén)陣列器件開(kāi)發(fā)成功，測(cè)試方面要求達(dá)到256管腳，速度高于40MHz。

　 　針對(duì)這一需求，F(xiàn)airchild 試圖開(kāi)發(fā)Sentry 50，但是失敗了。Fairchild將其ATE部門(mén)賣(mài)給斯倫貝謝，成為斯倫貝謝測(cè)試系統(tǒng)公司。Fairchild將測(cè)試系統(tǒng)賣(mài)給斯倫貝謝以后，許多專(zhuān)家 離開(kāi)了Fairchild加入Genrad，成立了Genrad西海岸系統(tǒng)公司。GR16 和 GR18數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)由這里誕生了。這些新型的測(cè)試系統(tǒng)每個(gè)管腳有獨(dú)立的測(cè)試資源，管腳數(shù)最多達(dá)144。不久這些工程師離開(kāi)Ganrad成立了 Trillium測(cè)試系統(tǒng)，并將其賣(mài)給LTX。之后這些工程師又離開(kāi)了LTX，他們中的一些加入了科利登（Credence），其它人加入了其他的ATE 公司。

　　同一時(shí)期，泰瑞達(dá)的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備在模擬測(cè)試和存儲(chǔ)器測(cè)試方面占據(jù)統(tǒng)治地位。90年代早期Intel開(kāi)發(fā)成功高速、高管腳數(shù) 的單片處理器單元（MPU），隨之而來(lái)的是高速高管腳數(shù)的ATE。多媒體器件的出現(xiàn)使ATE變得更復(fù)雜，需要同時(shí)具有數(shù)字電路、模擬電路和存儲(chǔ)器電路的測(cè) 試能力，SoC測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生。

　　目前器件速度已經(jīng)達(dá)到1.6GHz，管腳數(shù)達(dá)到1024，所有的電路都集成到單個(gè)芯片。因此出現(xiàn)了真正系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試的需求。

　　ATE可以由帶一定內(nèi)存深度的一組通道，一系列時(shí)序發(fā)生器及多個(gè)電源組成。這些資源是通過(guò)負(fù)載板把信號(hào)激勵(lì)到芯片插座上的芯片管腳。

　　ATE可分為以下幾種類(lèi)型：

　　*數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)—— 共享資源測(cè)試系統(tǒng)，每個(gè)管腳有獨(dú)立測(cè)試資源的測(cè)試系統(tǒng)。用來(lái)特性化測(cè)試集成電路的邏輯功能。如科利登的SC312和Quartet。

　　*線性器件測(cè)試系統(tǒng)——用來(lái)測(cè)試線性集成電路的測(cè)試系統(tǒng)。

　　*模擬測(cè)試系統(tǒng)——用來(lái)特性化測(cè)試集成電路的模擬功能。如科利登的ASL系列。

　　*存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng) － DRAM 測(cè)試系統(tǒng)，閃存測(cè)試系統(tǒng)。這些類(lèi)型的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備用于驗(yàn)證內(nèi)存芯片。如科利登的Personal Kalos和Kalos系列，Agilent 的Versatest系列， Advantest的T5593。　　*板測(cè)試系統(tǒng) － 板測(cè)試是用來(lái)測(cè)試整塊印制電路板，而不是針對(duì)單個(gè)集成電路。如泰瑞達(dá)的1800。

　　*混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)——這種類(lèi)型的系統(tǒng)資源用來(lái)測(cè)試集成電路的模擬及數(shù)字功能。 如科利登的Quartet系列。

　　*RF測(cè)試系統(tǒng)——用來(lái)測(cè)試射頻集成電路的測(cè)試。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon。

　　*SOC 測(cè)試系統(tǒng)—— 通常就是一個(gè)昂貴的混合信號(hào)集成電路測(cè)試系統(tǒng)，用來(lái)測(cè)試超大規(guī)模集成電路（VLSI）芯片；并且這種超大規(guī)模集成電路（VLSI）芯片的集成度比傳統(tǒng)的混 合信號(hào)芯片高得多。如科利登的Octet系列， Agilent的93000系列， Advantest的T6673。

　　ATE開(kāi)發(fā) 是從簡(jiǎn)單器件、低管腳數(shù)、低速測(cè)試系統(tǒng)（10 MHz, 64 pins）到中等數(shù)量管腳、中速測(cè)試系統(tǒng)（40 MHz, 256 pins）到高管腳數(shù)、高速（超過(guò)100 MHz, 1024 pins）并最終過(guò)渡到現(xiàn)在的SoC測(cè)試系統(tǒng)（1024 pin, 超過(guò)400MHz，并具備模擬、存儲(chǔ)器測(cè)試能力）。

　　未來(lái)的測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試速度將超過(guò)1.6GHz，時(shí)序精度在幾百納秒范圍內(nèi)，并將數(shù)字、模擬、存儲(chǔ)器和RF測(cè)試能力集成于一臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)。

　　這樣一臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)的成本將非常高，因此需要使用一臺(tái)或多臺(tái)測(cè)試工作臺(tái)進(jìn)行并行的器件測(cè)試。為了降低測(cè)試成本，芯片中將加入自測(cè)試電路。同時(shí)基于減少測(cè)試系統(tǒng)成本的考慮，模塊化的測(cè)試系統(tǒng)將取代通用的測(cè)試系統(tǒng)。