手把手教你如何進行USB3.0發(fā)射機測試
加入技術交流群
圖10.12英寸和24英寸PCB軌跡的幅度和相位響應。
參考測試通道
可以通過兩種方法捕獲TP1的“遠端”信號。第一種方法使用USB-IF基于硬件的電纜和夾具，在TP1處采集數(shù)據(jù)。第二種方法使用從TDR、VNA或仿真器中提取的模型，在軟件中仿真硬件通道效應。公認的通道模型是一個S參數(shù)文件，其中包括幅度和相位響應影響。先在TP2處或距發(fā)射機最近的地方采集信號，然后使用S參數(shù)文件對采集的數(shù)據(jù)求卷積，這個S參數(shù)文件已經被轉換成一個有限脈沖響應(FIR)濾波器(如需更多地了解泰克示波器上的濾波器應用，請參閱www.tektronix.com上的白皮書“任意FIR濾波器的原理、設計和應用”)。
通過這種方法，工程師可以使用變化而又重復的具體通道要求測量被測器件。例如，我們比較一下不同PCB軌跡長度中的5 Gb/s信號測量結果。圖9顯示了連接到12英寸和24英寸軌跡的ISI測試電路板，圖10提供了相應的Sdd21通道響應。
圖11.12英寸軌跡的硬件通道仿真和軟件仿真。
圖12.24英寸軌跡的硬件通道仿真和軟件仿真。
在包括硬件通道時、在沒有包括硬件通道時都要采集測試信號。圖11和圖12顯示了每個軌跡長度的原始信號(白色)、遠端硬件響應(橙色)和使用S參數(shù)數(shù)據(jù)卷積后的原始信號。圖13包括來自基于硬件和基于軟件的測試數(shù)據(jù)的眼圖。
評論